| 主权项 |
一种用于记录使测试电子元件的测试装置发挥功能之程式的电脑可读取记录媒体，包括：该程式可使上述之测试装置形成下述各部并发挥功能；比较部，比较该电子元件输出的输出讯号与供给的期待值讯号；及时序发生部，发生比率讯号供给该比较部，规定该比较部进行比较该输出讯号与该期待值讯号的时序；及不良记忆部，将该比较部依比率讯号顺次进行比较的比较结果，顺次在不同之位址记存；以及周期计算部，在进行测试时测定输出讯号的周期之场合，依据该不良记忆部顺次记存的该比较结果，计算该输出讯号的周期。如申请专利范围第1项所述之用于记录使测试电子元件的测试装置发挥功能之程式的电脑可读取记录媒体，其特征为该程式可使该测试装置形成期待值控制部发挥其功能，即该期待值控制部，在测试时于进行测定该输出讯号的周期之场合，供给该比较部固定在所定之值的该期待值讯号；在测试时的不测定该周期讯号的周期之场合，供给对应于供给该电子元件的测试图案之该期待值讯号。如申请专利范围第2项所述的用于记录使测试电子元件的测试装置发挥功能之程式的电脑可读取记录媒体，其特征为该程式可使该测试装置当作比率控制部发挥功能，即该比率控制部，在测试时的进行测定该周期讯号的周期之场合，使该时序发生部发生一定周期的该比率讯号。如申请专利范围第3项所述的用于记录使测试电子元件的测试装置发挥功能之程式的电脑可读取记录媒体，其特征为该程式，在该测试时的进行测定该周期讯号的周期之场合，使该比较部进行该输出讯号与该期待值讯号的比较，直到该不良记忆部的全部位址顺次记入该比较结果为止。如申请专利范围第4项所述的用于记录使测试电子元件的测试装置发挥功能之程式的电脑可读取记录媒体，其特征为该程式能够，令该周期计算部，将在该不良记忆部的各个位址记忆的该些比较结果，依时序排列形成时序列资料；在该时序列资料之值的改变次数大于所定的次数之场合，令该周期计算部，依据该时序列资料算出该周期讯号的周期；以及在该时序列资料之值的改变次数小于所定的次数之场合，令该周期计算部，记存该时序列资料，并消除在该不良记忆部记存的该些比较结果；并令该比较部再进行该输出讯号与该期待值讯号的比较，直到该不良记忆部的全部位址顺次记存新的该些比较结果为止；令该周期计算部再形成新的该时序列资料；再令该周期计算部依据前记存的该时序列资料与新的该时序列资料，算出该些输出讯号的周期。如申请专利范围第2项所述的用于记录使测试电子元件的测试装置发挥功能之程式的电脑可读取记录媒体，其特征为该程式，在该电子元件的内部时钟供给该比较部做为该输出讯号时，可用该测试装置进行测定该输出讯号之周期。一种测试装置，为电子元件的测试装置，该测试装置包括：比较部，用以比较该电子元件输出的输出讯号与供给的期待值讯号；及时序发生部，发生比率讯号供给该比较部，规定该比较部进行比较该输出讯号与该期待值讯号的时序；及不良记忆部，将该比较部依该比率讯号顺次比较的比较结果，顺次在不同的位址记存；以及周期计算部，在测试时的进行测定该周期讯号的周期之场合，依据在该不良记忆部顺次记忆的较结果，计算该输出讯号的周期。一种测试方法，用以测试电子元件，该测试方法包括：比较阶段，即进行比较该电子元件输出的输出讯号，与供给的期待值讯号之阶段；及时序发生阶段，发生比率讯号决定在该比较阶段，进行该输出讯号与该期待值讯号的比较之时序；及不良记录阶段，将在该比较阶段依该比率讯号顺次比较的比较结果，顺次在不同的位址记录；以及周期计算阶段，在测试时的进行测定该周期讯号的周期之场合，依据在该不良记录阶段顺次记录的该些比较结果，计算该输出讯号的周期。 |
