METHOD FOR DETECTING A SWITCHING POSITION OF A SWITCHING DEVICE

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erfassung einer Schaltstellung einer zumindest ein Schaltelement (SE1, SE2) umfassenden Schalteinrichtung, wobei die jeweilige Schaltstellung des Schaltelements durch einen Wert einer physikalischen Messgröße (UM1, UM2) des Schaltelements repräsentiert ist, die über einen A/D-Wandlereingang (A/D) einem Mikroprozessor (µC) zur Auswertung zugeführt wird, umfassend die Verfahrensschritte: Identifizieren der Schaltstellung durch Vergleich des erfassten Ist-Wertes der physikalischen Messgröße mit vorgegebenen, festen Soll-Werten für die verschiedenen Schaltstellungen; Berechnen eines abgeleiteten Wertes einer physikalischen Vergleichsgröße für die identifizierte Schaltstellung mittels eines auf den Nennwerten der die Messgröße bestimmenden Bauelemente (M1, M2, S11-S24) und Eingangsgrößen der Schalteinrichtung basierenden physikalischen Modells der Schalteinrichtung unter Verwendung des erfassten Ist-Wertes der physikalischen Messgröße; Bilden eines Differenzwertes (UDiff) zwischen dem abgeleiteten Wert der physikalischen Vergleichsgröße (Uges) und dem vorgegebenen Nennwert oder einem aktuell erfassten Ist-Wert (Uvcc) der physikalischen Vergleichsgröße; und Vergleich des Differenzwertes mit einem Differenz-Schwellwert und Qualifizierung der vorliegenden Schaltstellungserfassung als fehlerhaft bei Überschreitung des Differenz-Schwellwerts (UDiff-S) durch den aktuellen Differenzwert.