发明名称 一种GSM移动终端的TIS测试方法
摘要 本发明公开了一种GSM移动终端的TIS测试方法;将GSM移动终端和基站仿真器使用射频线缆直接连接进行传导测试,确定传导测试下GSM移动终端达到误码率标准时GSM移动终端基带芯片实际接收到的功率值RxLevel,使用RxLevel值来快速定位辐射下任何位置的灵敏度的方法,可以提高TIS测试中每个角度的灵敏度搜索时间,从而提高TIS的整体测量速度。以及使用移动终端辐射模式任意一点下灵敏度对应的移动终端基带芯片接收功率RxLevel值来快速定位辐射下任何位置的灵敏度的方法,其可以提高TIS测试中每个角度的灵敏度搜索时间,从而提高TIS的整体测量速度。
申请公布号 CN102324987A 申请公布日期 2012.01.18
申请号 CN201110189515.7 申请日期 2011.07.07
申请人 惠州TCL移动通信有限公司 发明人 白剑
分类号 H04B17/00(2006.01)I 主分类号 H04B17/00(2006.01)I
代理机构 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人 王永文;杨宏
主权项 1.一种GSM移动终端的TIS测试方法,其特征在于,包括步骤:首先将GSM移动终端和基站仿真器使用射频线缆直接连接进行传导测试,确定传导测试下GSM移动终端达到误码率标准时GSM移动终端基带芯片实际接收到的功率值Rx Level,并将该传导测试下GSM移动终端基带芯片实际接收功率为<img file="2011101895157100001DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="66" he="25" />;所述方法还包括以下步骤:Step1: 将GSM移动终端开机放置到OTA测试系统的转台固定位置,并连接到基站仿真器;Step2: OTA测试系统控制转台的Theta轴和Phi轴传动到第一预定位置;Step3: OTA测试系统控制暗室收发天线转动到水平位置;Step4: OTA测试系统控制基站仿真器到初始功率<img file="2011101895157100001DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="36" he="25" />;Step5: 测量GSM移动终端的误码率;并测试此时在基站仿真器输出功率设为初始功率<img file="27233DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="36" he="25" />时,GSM移动终端基带芯片的接收功率的Rx Level值,设为<img file="2011101895157100001DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="62" he="25" />;Step6: 当GSM移动终端误码率没有超标,OTA测试系统控制基站仿真器降低发射功率为<img file="2011101895157100001DEST_PATH_IMAGE008.GIF" wi="53" he="26" /><b> =</b><img file="69008DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="36" he="25" />-(<img file="848745DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="62" he="25" />-<img file="430905DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="66" he="25" /><b>)</b>;其中,<img file="369911DEST_PATH_IMAGE008.GIF" wi="53" he="26" />表示下一步基站仿真器应该设置的功率;<img file="192373DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="36" he="25" />为基站仿真器测试时的初始功率;<img file="397090DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="62" he="25" />表示基站仿真器输出功率设为初始值的时候,GSM移动终端基带芯片的接收功率;<img file="788800DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="66" he="25" />表示在传导测试中,GSM移动终端达到灵敏度时基带芯片实际接收功率;Step7: 测量此时的GSM移动终端误码率;Step8: 当判断此时的GSM移动终端误码率没有超标,则对基站仿真器发射功率减少一预定值,当此时的GSM移动终端误码率超标,则对基站仿真器发射功率增加一该预定值,重新测试;记录此时的基站仿真器发射功率,即为该位置的灵敏度<img file="2011101895157100001DEST_PATH_IMAGE010.GIF" wi="93" he="26" />;Step9: OTA测试系统控制暗室收发天线转动到垂直位置,重复step4-8;Step10:测试系统控制转台Theta和Phi轴传动到第二预定位置,并重复Step3-9;Step11:测试系统控制转台Theta轴每隔30<sup>0</sup>,Phi轴每隔30<sup>0</sup>测试一次,当转台Theta和Phi轴所有角度测试完毕后,根据公式:<img file="2011101895157100001DEST_PATH_IMAGE012.GIF" wi="447" he="97" />加权统计所有位置的灵敏度<img file="2011101895157100001DEST_PATH_IMAGE013.GIF" wi="93" he="26" />,从而获得最终的TIS;其中<img file="DEST_PATH_IMAGE015.GIF" wi="14" he="20" />,<img file="DEST_PATH_IMAGE017.GIF" wi="14" he="22" />分别为上述Theta和Phi轴的角度,EIS是灵敏度<img file="831580DEST_PATH_IMAGE013.GIF" wi="93" he="26" />补偿该角度暗室接收天线增益后的功率值,单位为瓦;N和M分别是Theta和Phi轴的测试点数,<img file="DEST_PATH_IMAGE019.GIF" wi="78" he="26" />分别是暗室接收天线转动水平和垂直位置测试的灵敏度。
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