发明名称 紫外激光精密打标装置
摘要 本实用新型涉及紫外激光精密打标装置,紫外调Q固体激光器的输出端设置扩束镜,扩束镜的输出端布置有扫描振镜,扫描振镜的输出端连接有聚焦镜,聚焦镜的下方布置有二维移动平台;紫外调Q固体激光器发出的光束射入扩束镜,扩束镜输出准直的光束,准直的光束经扫描振镜后进入聚焦镜,聚焦镜聚焦后的光束焦点位于二维移动平台的加工工件上。采用紫外调Q脉冲激光器,紫外激光因其固有特性,在与材料作用时,并不是通过热烧蚀去除物质,而是通过打断材料的化学键来使分子剥离,可极大地减小热影响区域;紫外激光加工又称为冷加工,可获得很好的边缘效果;解决了激光打标过程中的位置精度及效果问题,适用于半导体领域晶圆级打标应用。
申请公布号 CN202115116U 申请公布日期 2012.01.18
申请号 CN201120158400.7 申请日期 2011.05.18
申请人 苏州德龙激光有限公司;江阴德力激光设备有限公司 发明人 赵裕兴;汪昊
分类号 B41J2/435(2006.01)I 主分类号 B41J2/435(2006.01)I
代理机构 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 代理人 王玉国;陈忠辉
主权项 紫外激光精密打标装置,包括激光器和扩束镜,其特征在于:所述激光器为紫外调Q固体激光器,紫外调Q固体激光器的输出端设置扩束镜,所述扩束镜的输出端布置有扫描振镜,所述扫描振镜的输出端连接有聚焦镜,聚焦镜的下方布置有二维移动平台;所述紫外调Q固体激光器发出的光束射入扩束镜,扩束镜输出准直的光束,准直的光束经扫描振镜后进入聚焦镜,聚焦镜聚焦后的光束焦点位于二维移动平台的加工工件上。
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