发明名称 一种LTE下行系统中的速率匹配方法
摘要 本发明公开了一种LTE下行系统中的速率匹配方法,针对3GPP LTE下行系统,提出了基于Turbo编码的传输信道模型,采用循环填充和交错打孔的LTE下行系统中的速率匹配方法。在本发明中,首先采用系统-校验信息比特流交错合并的方法进行比特收集,然后针对收集到的比特流,采用循环填充或交错打孔方法添加或打掉相应数目的比特得到对应的码率,实现速率匹配。经实验测试表明,与传统的LTE速率匹配方法相比,该速率匹配方法能够有效地提高误比特率(Bit Error Rate,BER)性能。此外,本发明LTE下行系统中的速率匹配方法跳过了对伪比特的定位和删除,降低了运算的复杂度,提高了算法在软、硬件上的可实现性。
申请公布号 CN102325000A 申请公布日期 2012.01.18
申请号 CN201110128764.5 申请日期 2011.05.18
申请人 电子科技大学 发明人 隆克平;刘健;余龙
分类号 H04L1/00(2006.01)I 主分类号 H04L1/00(2006.01)I
代理机构 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人 温利平
主权项 1.一种LTE下行系统中的速率匹配方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)、比特收集在发送端,首先获得LTE Turbo编码的输出:系统比特流<img file="FDA0000061880350000011.GIF" wi="114" he="85" />两个校验比特流<img file="FDA0000061880350000012.GIF" wi="272" he="85" />然后将这三个比特流分别经过子块交织,分别得到三个输出序列:<img file="FDA0000061880350000013.GIF" wi="393" he="75" />其中,k=0,1,…,K<sub>π</sub>-1,K<sub>π</sub>为交织长度;再将这三个序列中的信息比特交错合并,合并方式如下:<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><msub><mi>w</mi><mrow><mn>3</mn><mi>k</mi></mrow></msub><mo>=</mo><msubsup><mi>v</mi><mi>k</mi><mrow><mo>(</mo><mn>0</mn><mo>)</mo></mrow></msubsup><mo>,</mo></mrow></math>]]></maths>k=0,...,K<sub>π</sub>-1<maths num="0002"><![CDATA[<math><mrow><msub><mi>w</mi><mrow><mn>3</mn><mi>k</mi><mo>+</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mo>=</mo><msubsup><mi>v</mi><mi>k</mi><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></msubsup><mo>,</mo></mrow></math>]]></maths>k=0,...,K<sub>π</sub>-1                (1)<maths num="0003"><![CDATA[<math><mrow><msub><mi>w</mi><mrow><mn>3</mn><mi>k</mi><mo>+</mo><mn>2</mn></mrow></msub><mo>=</mo><msubsup><mi>v</mi><mi>k</mi><mrow><mo>(</mo><mn>2</mn><mo>)</mo></mrow></msubsup><mo>,</mo></mrow></math>]]></maths>k=0,...,K<sub>π</sub>-1合并后得到比特序列w<sub>k</sub>,其中k=0,1,…,K<sub>w</sub>-1,K<sub>w</sub>=3K<sub>π</sub>;合并后得到比特序列w<sub>k</sub>在循环缓冲器中暂存;(2)、速率匹配在发生端,速率匹配后输出序列为e<sub>k</sub>,k=0,1,..,E-1,输出序列的长度E=K<sub>π</sub>/R,R为系统目标码率;定义速率匹配过程中填充或打孔的比特数为M,M的表达式如下:M=K<sub>w</sub>-E=3K<sub>π</sub>-E              (2)M值为负时,速率匹配过程需要填充;反之,M值为正时,速率匹配过程需要打孔;所述的填充为:首先把比特序列w<sub>k</sub>中所有K<sub>w</sub>个比特依次输出,然后从循环缓冲器的起始位置开始,循环连续读取|M|个比特并进行输出,得到长度为E的匹配输出序列e<sub>k</sub>;所述的打孔为:a1、如果M≤K<sub>π</sub>,交错地打掉比特序列w<sub>k</sub>中的校验1和校验2比特位,在打掉M个比特后,得到长度为E匹配输出序列e<sub>k</sub>;a2、如果K<sub>π</sub><M≤2K<sub>π</sub>,交错地打掉比特序列w<sub>k</sub>中的校验1和校验2比特位,然后再从得到的比特序列的起始位置开始,依次打掉M-K<sub>π</sub>个校验比特,从而得到长度为E匹配输出序列e<sub>k</sub>;a3、如果2K<sub>π</sub><M,所有校验位均被打掉,依次打掉M-2K<sub>π</sub>系统比特,得到长度为E匹配输出序列e<sub>k</sub>。
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