发明名称 多功能热力模拟实验机断电采集温度的测量采样方法
摘要 多功能热力模拟实验机断电采集温度的测量采样方法,涉及温度测量采集方式。计算机控制器作为下位机,与热力模拟试验机相连,在计算机控制器中,嵌入温度加热控制模块和PID控制模块,试样中心点焊有热电偶,在热力模拟实验机的操作箱内安装试样,并将热电偶连接到操作箱内的温度采集通道上。测量采样方法为:输入温度参数;采集试样的实际温度;对实测温度与温度设定值进行PID运算,将结果输出给可控硅;可控硅调节触发角,进而控制试样两端的电压值。本发明方法利用每周期可控硅导通前20°相位角的短暂周期来断电采集温度值,克服了交流电产生强磁场所带来的干扰信号,使测量结果更加准确,保证温度控制的精度。
申请公布号 CN101770244B 申请公布日期 2012.01.18
申请号 CN200910220269.X 申请日期 2009.11.30
申请人 东北大学 发明人 骆宗安;苏海龙;冯莹莹;王国栋;张殿华
分类号 G05D23/22(2006.01)I;G01K7/02(2006.01)I 主分类号 G05D23/22(2006.01)I
代理机构 沈阳东大专利代理有限公司 21109 代理人 梁焱
主权项 1.多功能热力模拟实验机断电采集温度的测量采样方法,其特征在于:包括计算机控制器、热电偶、可控硅和试样,计算机控制器作为下位机,与热力模拟试验机相连,在计算机控制器中,嵌入温度加热控制模块和PID控制模块,在试样中心点焊热电偶,在热力模拟实验机的操作箱内安装试样,并将热电偶连接到操作箱内的温度采集通道上;多功能热力模拟实验机断电采集温度的测量采样方法包括如下步骤:步骤1:初始化上位计算机,输入温度设定参数;步骤2:利用热电偶采集试样的实际温度,并将结果传至计算机控制器;步骤3:计算机控制器的PID控制模块对步骤2得到的每个控制周期的实测温度与温度设定值进行运算,并将运算出的电压数据输出给可控硅;步骤4:可控硅根据步骤3的电压数据调节触发角,控制加热变压器的电压输出值,并控制试样两端的电压值,利用每周期可控硅导通前20°相位角的短暂周期来断电采集温度值,其中,采集温度值即实测温度值须满足落在可控硅20°触发角的采集区内,判断方法为:温度设定值与实测温度作差,若绝对值大于5°,则采集点落在可控硅20°触发角的采集区外,对接下来n+2次周期的采集信号的触发时间重新设置,公式如下:T=T<sub>n+1</sub>+5/9ms         (1)其中,T<sub>n+1</sub>为第n+2次周期可控硅触发角为0°时的时刻值,n表示周期;t表示采样温度,调整方法如下:步骤4-1-1:弃用第n+1次周期的实测温度t<sub>n+1</sub>;步骤4-1-2:将第n次周期的实测温度t<sub>n</sub>作为第n+1次周期的实测温度,反馈给计算机控制器;步骤4-1-3:将第n+2次周期的实测温度作为第n+2次周期的反馈温度信号输出给计算机控制器;步骤4所述的触发时间重置,假定在第k次周期时,经过m次触发时间重置,且第m次触发重置发生在第k次周期,确定每次触发时间重置后与重置前的时间差:ΔT<sub>1</sub>,ΔT<sub>2</sub>,…,ΔT<sub>m</sub>,则第k次周期时总的时间差为:∑ΔT<sub>k</sub>=ΔT<sub>1</sub>+ΔT<sub>2</sub>+…+ΔT<sub>m</sub>        (2)步骤4-2-1:当<img file="FSB00000630431200011.GIF" wi="290" he="125" />时,重置后的采集点向右移动并“溢出”了当前周期,落入第k+1周期区域,该采集点与控制周期不匹配,将该采集点所采集的温度值t<sub>k</sub>作为下一周期的实测值t<sub>k+1</sub>,反馈给计算机控制器;本周期的实测值,采用向上推两个周期的实测值,即第k-2次周期实测值为t<sub>k-2</sub>,t<sub>k-2</sub>被第k-2次、k-1次和k周期重复应用三次;步骤4-2-2:当<img file="FSB00000630431200021.GIF" wi="240" he="124" />时,重置后的采集点向左移动并“溢出”了当前周期,落入前一周期区域即第k-1周期,将该采集点所采集的温度值t<sub>k</sub>弃用,将下一周期的实测值t<sub>k+1</sub>作为本周期的实测值反馈给计算机控制器,以后周期类推。
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