延迟故障的测试向量集的生成方法

摘要

本发明公开了一种延迟故障的测试向量集的生成方法，涉及集成电路可测性设计领域。所述方法包括步骤：根据两帧电路模型统计实物电路中每个触发器的后继集合和前驱集合；根据所述后继集合，将所述触发器进行分组，按组构造以扫描输入端为根节点的扫描树；所述扫描树中每个分支中的触发器构成一个扫描段，根据所述前驱集合，将所述扫描段通过异或门网络连接到扫描输出端；分阶段对所述扫描输入端进行分组连接，通过ATPG工具生成测试向量集。所述方法，通过对触发器进行分组，以及分阶段生成测试向量集的方式，显著减小了最终的测试向量集，减少了测试数据量。

主权项

一种延迟故障的测试向量集的生成方法，其特征在于，包括步骤：B：根据两帧电路模型统计实物电路中每个触发器的后继集合和前驱集合；C：根据所述后继集合，将所述触发器进行分组，按组构造以扫描输入端为根节点的扫描树；D：所述扫描树中每个分支中的触发器构成一个扫描段，根据所述前驱集合，将所述扫描段通过异或门网络连接到扫描输出端；E：分阶段对所述扫描输入端进行分组连接，通过ATPG工具生成测试向量集。