发明名称 Differentielles Kontrasttransmissionselektronenmikroskop und Verfahren zur Verarbeitung von elektronenmikroskopischen Bilddaten
摘要 Differentielles Kontrasttransmissionselektronenmikroskop, umfassend eine Objektivlinse, in deren hinterer Bildebene eine Phasenplatte (1) angeordnet ist, die die Kontrasttransferfunktionen in ungerade Funktionen umwandelt, so dass ein differentielles Kontrastbild erzeugt wird.
申请公布号 DE10240859(B4) 申请公布日期 2012.01.12
申请号 DE20021040859 申请日期 2002.09.04
申请人 JEOL LTD.;NAGAYAMA, KUNIAKI 发明人 NAGAYAMA, KUNIAKI;DANEV, RADOSTIN S.
分类号 H01J37/153;H01J37/22;H01J37/04;H01J37/09;H01J37/26;H01J37/295 主分类号 H01J37/153
代理机构 代理人
主权项
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