晶片测试治具

主权项

一种晶片测试治具，该晶片测试治具系设置有基座，基座内并排设置有复数连接器，且连接器表面为露出于基座，其改良在于：基座表面于连接器一侧间隔凸设有复数金属材质之定位柱，而基座上方设置有限位框，限位框表面间隔设置有复数限位槽，且各限位槽为分别正对于基座表面之连接器，并于限位框底表面一侧设置有复数定位孔，使基座之定位柱为穿入定位孔内形成定位，而限位框表面于正对定位孔处设置有凹槽，并于凹槽内设置有磁铁，俾使磁铁以磁吸力吸附定位柱，以让限位框于基座表面形成稳定之定位。如申请专利范围第1项所述之晶片测试治具，其中该限位框之定位孔与凹槽为呈连通状。如申请专利范围第1项所述之晶片测试治具，其中该定位孔之内径为小于凹槽之内径。如申请专利范围第1项所述之晶片测试治具，其中该基座一侧枢接有上盖，使上盖可翻掀盖合于限位框表面。