发明名称 光资讯记录装置
摘要
申请公布号 TWI356406 申请公布日期 2012.01.11
申请号 TW094115673 申请日期 2005.05.13
申请人 太阳诱电股份有限公司 发明人 关口慎生;垣本博哉;松田勋;佐藤祯一
分类号 G11B7/0045 主分类号 G11B7/0045
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种光资讯记录装置,其系藉由雷射光之脉冲照射而于光记录媒体进行资讯之记录,其特征在于具备:包含固定长凹槽、固定长平面、可变长凹槽连续之记录模式,使用该可变长凹槽长度相异之复数记录脉冲于前述光记录媒体进行测试记录之机构;再生前述测试记录之结果而取得对应该复数记录脉冲之各个之复数再生模式之机构;设定前述复数再生模式中之至少一个为基准模式,同时设定前述复数再生模式中之该基准模式以外之至少一个为比较模式之机构;比较对应前述基准模式所包含之固定长平面部分之信号与对应前述比较模式所包含之固定长平面部分之信号之机构;及由前述比较结果,检测对应前述比较模式所包含之可变长凹槽长度之凹槽前侧相位差异量之机构。一种光资讯记录装置,其系藉由雷射光之脉冲照射而于光记录媒体进行资讯之记录,其特征在于具备:包含可变长凹槽、固定长平面、固定长凹槽连续之记录模式,使用该可变长凹槽长度相异之复数记录脉冲于前述光记录媒体进行测试记录之机构;再生前述测试记录之结果而取得对应该复数记录脉冲之各个之复数再生模式之机构;设定前述复数再生模式中之至少一个为基准模式,同时设定前述复数再生模式中之该基准模式以外之至少一个为比较模式之机构;比较对应前述基准模式所包含之固定长平面部分之信号与对应前述比较模式所包含之固定长平面部分之信号之机构;及由前述比较结果,检测对应前述比较模式所包含之可变长凹槽长度之凹槽后侧相位差异量之机构。一种光资讯记录装置,其系藉由雷射光之脉冲照射而于光记录媒体进行资讯之记录,其特征在于具备:包含可变长平面、固定长凹槽、固定长平面连续之记录模式,使用该可变长平面长度相异之复数记录脉冲于前述光记录媒体进行测试记录之机构;再生前述测试记录之结果而取得对应该复数记录脉冲之各个之复数再生模式之机构;设定前述复数再生模式中之至少一个为基准模式,同时设定前述复数再生模式中之该基准模式以外之至少一个为比较模式之机构;比较对应前述基准模式所包含之固定长凹槽部分之信号与对应前述比较模式所包含之固定长凹槽部分之信号之机构;及由前述比较结果,检测对应前述比较模式所包含之可变长平面长度之凹槽长度差异量之机构。一种光资讯记录装置,其系藉由雷射光之脉冲照射而于光记录媒体进行资讯之记录,其特征在于具备:包含可变长平面、固定长凹槽、固定长平面连续之记录模式,使用该可变长平面长度相异之复数记录脉冲于前述光记录媒体进行测试记录之机构;再生前述测试记录之结果而取得对应该复数记录脉冲之复数再生模式之机构;比较对应前述复数再生模式之各个所包含之固定长凹槽部分之信号与对应该固定长凹槽长度之凹槽规定长之机构;及由前述比较结果,检测对应前述固定长凹槽长度之凹槽长度差异量之机构。一种光资讯记录装置,其系藉由雷射光之脉冲照射而于光记录媒体进行资讯之记录,其特征在于具备:包含固定长平面、可变长凹槽、固定长平面连续之记录模式,使用该可变长凹槽长度相异之复数记录脉冲于前述光记录媒体进行测试记录之机构;再生前述测试记录之结果而取得对应该复数记录脉冲之复数再生模式之机构;比较对应前述复数再生模式之各个所包含之可变长凹槽部分之信号与对应该可变长凹槽长度之凹槽规定长之机构;及由前述比较结果,检测对应前述可变长凹槽长度之凹槽长度差异量之机构。
地址 日本