发明名称 多点测量系统及方法
摘要
申请公布号 TWI356158 申请公布日期 2012.01.11
申请号 TW094130343 申请日期 2005.09.05
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 发明人 刘家良
分类号 G01D21/02 主分类号 G01D21/02
代理机构 代理人
主权项 一种多点量测系统,包括一用于量测一被测物体的量测仪器,其改良在于:还包括一与所述量测仪器相连的电脑系统,所述电脑系统包括一量测模组,所述量测模组包括一量测子模组,一通讯子模组,一报告生成子模组,及一人机介面子模组,其中所述量测子模组用于产生控制量测仪器量测的量测指令,所述通讯子模组用于控制所述电脑系统与所述量测仪器通讯,以将量测子模组产生的量测指令传输给所述量测仪器,所述量测仪器根据所述测量指令测量被测物体并得到一测量值,并将所述量测值传输给所述报告生成子模组,所述报告生成子模组用于根据所述量测值生成预定格式之量测报告,所述人机介面子模组用于将所述量测报告藉由一使用者介面描述出来。如申请专利范围第1项所述之多点量测系统,其中:所述量测仪器的量测值为复数量测工具量测所得的多点量测值。如申请专利范围第1项所述之多点量测系统,其中:所述量测模组还包括一量测参数储存子模组,所述量测参数储存子模组用于接收使用者藉由所述使用者介面设置之量测参数存储至一存储装置。如申请专利范围第3项所述之多点量测系统,其中:所述量测参数包括用于综合判断被测物体的计算公式。如申请专利范围第4项所述之多点量测系统,其中:所述量测模组还包括一资料处理子模组,所述资料处理子模组用于接收所述量测值,并对所述量测值进行资料处理及计算所述计算公式的值。如申请专利范围第1项所述之多点量测系统,其中:所述电脑系统还包括一第一输入输出埠,所述量测仪器包括一第二输入输出埠,所述第一输入输出埠与所述第二输入输出埠藉由一数据线互连。如申请专利范围第6项所述之多点量测系统,其中:所述第一输入输出埠与所述第二输入输出埠之埠参数相同。一种多点量测方法,藉由一量测系统实施,所述量测系统包括一用于量测一被测物体的量测仪器,该多点量测方法包括如下步骤:提供一包括有一量测模组的电脑系统;所述量测模组接收使用者输入的指令,生成一量测指令;所述电脑系统与所述量测仪器通讯,将所述量测指令传送至所述量测仪器;所述量测模组撷取所述量测仪器量测值;藉由一使用者介面描述所述量测值;以所述量测值为基础,生成一量测报告。如申请专利范围第8项所述之多点量测方法,其中:还包括如下步骤:设置量测参数;存储所述量测参数至一存储装置。如申请专利范围第9项所述之多点量测方法,其中:所述量测指令的生成基于所述量测参数。如申请专利范围第9项所述之多点量测方法,其中:所述量测参数包括用于综合判断被测物体的计算公式。如申请专利范围第11项所述之多点量测方法,其中:还包括如下步骤:计算所述计算公式的值;藉由所述使用者介面描述所述计算公式的值。如申请专利范围第8项所述之多点量测方法,其中:所述电脑系统包括一第一输入输出埠,所述量测仪器包括一第二输入输出埠,所述第一输入输出埠与所述第二输入输出埠藉由一数据线相连。如申请专利范围第13项所述之多点量测方法,其中:还包括如下步骤:设置所述第一输入输出埠参数,使所述埠参数与所述第二输入输出埠相匹配。如申请专利范围第14项所述之多点量测方法,其中:还包括如下步骤:判断所述第一输入输出埠参数是否与所述第二输入输出埠参数一致;当所述第一输入输出埠参数与所述第二输入输出埠参数一致时,开启所述第一输入输出埠。
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