发明名称 | 荧光检测装置和荧光检测方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种荧光检测装置和荧光检测方法,该荧光检测装置在接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光时,生成用来对射出自激光光源部的激光进行强度调制的调制信号,并利用该调制信号对激光进行调制,并获得测量对象物被激光照射后所发出的荧光的荧光信号,并利用该荧光信号计算出荧光强度和荧光相对于调制信号的相位滞后,此时,荧光检测装置对调制信号DC成分的信号电平和刚刚输出荧光信号的放大增益的操作量进行控制,以使荧光强度信号值进入预先设定的范围内,操作量处于稳定状态后,计算出荧光强度,且利用相位滞后计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间。 | ||
申请公布号 | CN102317761A | 申请公布日期 | 2012.01.11 |
申请号 | CN201080007693.7 | 申请日期 | 2010.02.08 |
申请人 | 三井造船株式会社 | 发明人 | 中田成幸;土井恭二 |
分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人 | 杨颖;张一军 |
主权项 | 一种荧光检测装置,对接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光而得到的荧光信号进行信号处理,其特征在于,包括:光源部,对照射测量对象物的激光进行强度调制并将其发射;受光部,输出测量对象物被激光照射后所发出的荧光的荧光信号;光源控制部,生成用于对射出自所述光源部的激光进行强度调制的调制信号;第一处理部,包括:放大器,对输出自所述受光部的荧光信号进行放大;混频器,生成被放大的所述荧光信号的、相对于所述调制信号的相同相位成分和被放大的所述荧光信号的、相对于所述调制信号相位发生90度位移的90度相位成分;AD转换器,对所生成的所述相同相位成分和所述90度相位成分进行数字转换;第二处理部,利用数字转换的所述相同相位成分和所述90度相位成分计算出荧光强度信号和荧光相对于所述调制信号的相位滞后,并利用所算出的所述荧光强度信号和所述相位滞后计算出测量对象物所发出的荧光的荧光强度和荧光弛豫时间;信号控制部,对用以所述强度调制的调制信号DC成分的信号电平和所述放大器增益中的至少一方的操作量进行控制,以使所述荧光强度信号值进入预先设定的范围内。 | ||
地址 | 日本东京都 |