给元件母体进行装配时对吸取的元件的分类

摘要

本发明涉及一种用于对由吸持装置吸取的电子元件进行分类的方法。该方法包括以下步骤：a)借助吸持装置从元件输送装置的取件位置吸取元件，b)借助传感器装置检测所吸取的元件，c)借助后置于传感器装置的分析单元来测定在元件和吸持装置之间的偏移，d)将所述偏移与第一基准值以及与第二基准值进行比较，以及e)对所吸取的元件进行分类。在此如果所述偏移小于第一基准值并且大于第二基准值，那么将所述元件分类为应该抛弃的元件，并且将所求出的偏移用于关于将来的元件的可期待的取件位置的学过程。本发明还涉及一种装配装置，设置该装配装置用于实施用于对所吸取的电子元件进行分类的方法。

主权项

用于对由吸持装置(120、220)吸取的电子元件(211)进行分类的方法，该方法用于用所述元件(211、311)对元件母体(130、330)进行无缺陷装配，所述方法具有以下步骤：借助于吸持装置(120、220、320)从元件输送装置(110)的取件位置(112)上吸取所述元件(211)，借助于传感器装置(150)检测所吸取的元件(211)，借助于后置于所述传感器装置(150)的分析单元(151)来测定在所吸取的元件(211)和吸持装置(120、220)之间的偏移，将所述偏移与第一基准值以及与第二基准值进行比较，以及对所吸取的元件(211)进行分类，其中如果所求出的偏移小于所述第一基准值并且大于所述第二基准值，那么将所吸取的元件(211)分类为应该抛弃的元件(211)，并且将所求出的偏移用于学习过程，该学习过程与将来的元件的可期待的取件位置相关。