发明名称 垂直相变存储器的制备方法
摘要 一种垂直相变存储器的制备方法,包括如下步骤:步骤1:在衬底上生长第一金属层作为底部电极;步骤2:在第一金属层上淀积第一绝缘材料层;步骤3:采用微纳加工技术将该第一绝缘材料层制作成纳米尺寸的绝缘柱体;步骤4:在第一金属层上和绝缘柱体的表面淀积第二金属层作为加热电极;步骤5:在第二金属层上淀积第二绝缘材料层;步骤6:用化学机械抛光的方法抛光表面,同时切断绝缘柱体顶部的第二金属层的连接,形成环形的加热电极;步骤7:最后淀积相变材料和顶部电极,引出电极即可形成垂直相变存储器。
申请公布号 CN101794862B 申请公布日期 2012.01.11
申请号 CN201010113827.5 申请日期 2010.02.24
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 张加勇;王晓峰;马慧莉;程凯芳;王晓东;杨富华
分类号 H01L45/00(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 汤保平
主权项 一种垂直相变存储器的制备方法,包括如下步骤:步骤1:在衬底上生长第一金属层作为底部电极;步骤2:在第一金属层上淀积第一绝缘材料层;步骤3:采用微纳加工技术将该第一绝缘材料层制作成纳米尺寸的绝缘柱体;步骤4:在第一金属层上和绝缘柱体的表面淀积第二金属层作为加热电极;步骤5:在第二金属层上淀积第二绝缘材料层;步骤6:用化学机械抛光的方法抛光表面,同时切断绝缘柱体顶部的第二金属层的连接,形成环形的加热电极;步骤7:最后淀积相变材料和顶部电极,引出电极即可形成垂直相变存储器。
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