发明名称 |
多光轴光电传感器 |
摘要 |
在根据检测区域处于光屏蔽状态的情况来停止控制输出的多光轴光电传感器中,根据每次光轴扫描处理的结果来更新第一变量Con和第二变量Coff,该第一变量Con表示得到检测区域处于光入射状态的判断结果(光入射状态检测)的光轴扫描处理所持续的时间的长度,该第二变量Coff表示得到检测区域处于光屏蔽状态的判断结果(光屏蔽状态检测)的光轴扫描处理所持续的时间的长度。在检测区域处于光入射状态的判断结果持续进行的期间被更新的第一变量Con的值达到预先确定的第一基准值,且在这之前根据检测区域处于光屏蔽状态的判断来被更新的第二变量Coff的最终值在预先确定的第二基准值以下的情况下,报告光屏蔽状态检测是由于误动作而产生。利用该报告能够正确区分由于检测对象物以外的原因导致错误地在输出/非输出之间进行切换的情况。 |
申请公布号 |
CN102318191A |
申请公布日期 |
2012.01.11 |
申请号 |
CN201080007884.3 |
申请日期 |
2010.08.25 |
申请人 |
欧姆龙株式会社 |
发明人 |
小泽亮;尾﨏一功 |
分类号 |
H03K17/78(2006.01)I;G01V8/20(2006.01)I |
主分类号 |
H03K17/78(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
聂宁乐;向勇 |
主权项 |
一种多光轴光电传感器,在投光器和受光器之间设定有多个光轴;反复进行以下处理:光轴扫描处理,依次使各光轴变得有效,并检测在有效的光轴上是否有光入射,判断处理,根据光轴扫描处理的结果,来判断由各光轴形成的检测区域的光入射/光屏蔽状态;根据判断的结果,来在输出/非输出之间进行切换,其特征在于,具有:误动作报告单元,其用于报告表示判断为上述检测区域处于光屏蔽状态的判断结果的输出是因误动作而引起的,变量更新单元,其根据针对每次光轴扫描处理的判断结果来更新第一变量和第二变量,所述第一变量表示得到上述检测区域处于光入射状态的判断结果的光轴扫描处理所持续的时间的长度,所述第二变量表示得到上述检测区域处于光屏蔽状态的判断结果的光轴扫描处理的执行时间的长度,报告控制单元,其在满足特定条件时,使误动作报告单元工作,上述特定条件是指,在上述检测区域处于光入射状态的判断结果持续的期间内被更新的第一变量的值达到预先确定的第一基准值,且在这之前根据检测区域处于光屏蔽状态的判断结果来所更新的第二变量的最终值在预先确定的第二基准值以下。 |
地址 |
日本京都府 |