发明名称 |
一种热熔断式传感器的断线检测方法 |
摘要 |
本发明公开了一种热熔断式传感器,包括与热熔断检测电路相连的热熔断元件F1,所述热熔断元件F1并联有至少一个检测电阻R3。同时,本发明还公开了一种热熔断式传感器的断线检测方法。本发明不仅具有温度状态检测可靠、故障率低的优点,且明显提高了轴温状态监测的可信度,使得热熔断式传感器的轴温状态监测更加可靠。 |
申请公布号 |
CN101734262B |
申请公布日期 |
2012.01.11 |
申请号 |
CN200910266704.2 |
申请日期 |
2009.12.30 |
申请人 |
成都运达科技股份有限公司 |
发明人 |
何鸿云;王玉松;袁莱;段云波 |
分类号 |
B61K9/04(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
B61K9/04(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种热熔断式传感器的断线检测方法,其特征在于,包括以下步骤:(a)单片机MCU上电后,将其CT端初始化为输出状态并输出低电平,其FB端初始化为输入状态;(b)单片机MCU在FB端检测信号,如为低电平,则热熔断式传感器处于正常状态,并保持CT端输出信号且从FB端检测信号;如为高电平,则热熔断式传感器出现熔断或断线,需进行故障判别;(c)故障判别时,单片机MCU从CT端输出脉冲信号,且单片机MCU从FB端检测信号;(d)所述步骤(c)完毕后,如检测结果出现低电平信号,则判断为热熔断式传感器处于熔断状态;如检测结果未出现低电平信号,则判断为热熔断式传感器处于断线状态;(e)故障判别完毕后,单片机MCU继续从CT端输出信号且从FB端检测信号,如检测信号出现高电平,则再次重复步骤(c)和(d)。 |
地址 |
610000 四川省成都市高新区高朋东路2号康特基地孵化园 |