发明名称 |
利用ARC层打开的CD偏置负载控制 |
摘要 |
提供一种在设在图案化掩模下方的抗反射涂覆(ARC)层下方的蚀刻层中蚀刻线条图案的方法。该方法包括开口该ARC层,其中提供包括CF3I、含氟碳化合物气体(包括氢氟碳化合物)和含氧气体的ARC开口气体,由该ARC开口气体形成等离子以开口该ARC层和停止提供该ARC开口气体。通过该开口的ARC层将线条图案特征蚀刻进该蚀刻层。 |
申请公布号 |
CN102318037A |
申请公布日期 |
2012.01.11 |
申请号 |
CN200880123036.1 |
申请日期 |
2008.12.09 |
申请人 |
朗姆研究公司 |
发明人 |
池贞浩;乔纳森·金 |
分类号 |
H01L21/027(2006.01)I;H01L21/3065(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/027(2006.01)I |
代理机构 |
上海胜康律师事务所 31263 |
代理人 |
周文强;李献忠 |
主权项 |
一种在设在图案化掩模下方的抗反射涂覆(ARC)层下方的蚀刻层中蚀刻线条图案的方法,该方法包括:开口该ARC层,包括:提供ARC开口气体,其包括CF3I、含氟碳化合物气体和含氧气体;由该ARC开口气体形成等离子以开口该ARC层;以及停止提供该ARC开口气体;以及通过该开口的ARC层将线条图案特征蚀刻进该蚀刻层。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |