发明名称 |
一种对被测试器件进行故障检测的方法、系统及装置 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种对被测试器件进行故障检测的方法、系统及装置。本发明实施例中的方法包括以下步骤:建立任一被测试器件与JTAG测试总线的测试链路;对所述被测试器件进行测试,如果返回JTAG控制器的数据异常或接收不到返回数据,定位所述被测试器件出现故障。采用本发明实施例提供的方法提高了故障隔离率,便于维护、维修,并提升了总线速率及总线可靠性。 |
申请公布号 |
CN101470169B |
申请公布日期 |
2012.01.11 |
申请号 |
CN200810006837.1 |
申请日期 |
2008.02.02 |
申请人 |
华为技术有限公司 |
发明人 |
高岩 |
分类号 |
G01R31/3185(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/3185(2006.01)I |
代理机构 |
北京挺立专利事务所 11265 |
代理人 |
皋吉甫 |
主权项 |
一种对被测试器件进行故障检测的方法,其特征在于,包括:建立任一被测试器件与JTAG测试总线的测试链路,包括:JTAG控制器控制时钟控制器选通被测试器件,所述JTAG控制器与时钟控制器、以及所述被测试器件联立建立点对点驱动,建立任一被测试器件与JTAG测试总线的测试链路、输出时钟;对所述被测试器件进行测试,如果返回JTAG控制器的数据异常或接收不到返回数据,定位所述被测试器件出现故障。 |
地址 |
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 |