| 摘要 |
<p>L'invention concerne un convertisseur analogique-numérique sigma-delta comprenant une ligne d'entrée (405) pour recevoir un signal à convertir ; des première, deuxième et troisième entrées (408, 410, 412) pour recevoir respectivement des première, deuxième et troisième tensions de test (V , V , V ) ; et un circuit de commutation adapté à appliquer pendant un mode de test du convertisseur analogique-numérique sigma-delta un signal de test ternaire à la ligne d'entrée en sélectionnant périodiquement, sur la base d'un signal de commande de test (D ), l'une de la première, deuxième ou troisième tension de test à appliquer à la ligne d'entrée.</p> |
