发明名称 VARIATION OF AN MRI SEQUENCE PARAMETER TO MINIMISE THE VARIANCE OF A MEASURED VALUE
摘要 <p>Es werden ein Verfahren und eine Steuersequenz-Ermittlungseinrichtung (22) zur Ermittlung einer Steuerbefehlsfolge (AS) beschrieben, für eine Magnetresonanz-Messsequenz mit einer Mehrzahl von Einzelmessungen, um die Einzelmessungen später hinsichtlich eines Auswertungsparameters auszuwerten und die dabei aus den Einzelmessungen erhaltenen Auswertungsergebnisse zu einem Gesamtauswertungsergebnis (GA) der Messung zu kombinieren. Dabei wird die Steuerbefehlsfolge (AS) so aufgebaut, dass zwischen verschiedenen Einzelmessungen zumindest ein Sequenzsteuerparameter (d1, d2,..., dk,...,dN) derart variiert wird, dass die Varianz eines Messfehlers bezüglich des Gesamtauswertungsergebnisses minimiert wird. Darüber hinaus werden ein Verfahren zum Betrieb eines Magnetresonanzsystems (1) sowie ein Magnetresonanzsystem (1) mit einer solchen Steuersequenz-Ermittlungseinrichtung (22) beschrieben.</p>
申请公布号 WO2012000716(A1) 申请公布日期 2012.01.05
申请号 WO2011EP58095 申请日期 2011.05.19
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;HEID, OLIVER 发明人 HEID, OLIVER
分类号 G01R33/54 主分类号 G01R33/54
代理机构 代理人
主权项
地址