发明名称 Endoskop
摘要 Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Endoskop und ein Verfahren zur Messung der Topographie einer Oberfläche (4) mittels eines Endoskops (30, 33, 40, 44, 44'). Dabei werden Projektionsstrahlen (12) von einer Projektionseinheit (6) ausgestrahlt werden, wobei eine der Projektionseinheit (6) zugeordnete Bilderzeugungseinheit phasenstrukturierte Bildsequenzen kopfnah mittels lichtemittierendem Display (42) erzeugt oder kopffern mittels Projektionsmodul (46) und nachgeordnetem Bildleiter (32, 50) erzeugt und zur Projektionseinheit (6) überträgt. Auf diese Weise gestatten es beide erfindungsgemässen Alternativen, Sequenzen von phasenstruktierten und gegeneinander phasenverschobenen Bildern mittels der Projektionseinheit auch unter räumlich sehr stark eingeschränkten Bedingungen auf die zu vermessende Oberfläche projizieren und abbilden zu können. Der bisher für ein derartiges Vorgehen erforderliche Diawechsel zur Erzeugung phasenverschobener Bilder ist damit eliminiert und durch die kopfferne Generierung, die nur leicht beherrschbaren räumlichen Restriktionen unterliegt, oder die kopfnahe Generierung mittels des lichtemittierenden Displays (Micro-Display) ersetzt worden. Im besonderen die letztgenannte Alternative gestattet es dabei einen batterieversorgten kapselförmigen 3D-Messkopf ohne irgendwelche Zuführungen (ausser dem Führungsdraht) in zu vermessende Kavitäten einführen zu können. Die Batterie speist in diesem Fall sowohl das Micro-Display als auch den Bildsensor, wobei die Daten des Bildsensors, die das Abbild des projizierten Bildes repräsentieren, entweder drahtlos an eine Auswerteeinheit, beispielsweise ein Visualisierungsrechner, übertragen werden können oder in dem kapselförmigen Messkopf selbst zwischengespeichert werden können.
申请公布号 DE102010025752(A1) 申请公布日期 2012.01.05
申请号 DE20101025752 申请日期 2010.06.30
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SCHICK, ANTON
分类号 G02B23/24;A61B1/04 主分类号 G02B23/24
代理机构 代理人
主权项
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