发明名称 |
测试装置及测试方法 |
摘要 |
在测试器件的测试装置上安装:图案产生部,其产生用于测试被测试器件的测试图案;信号提供部,其将与测试图案相对应的测试信号提供给被测试器件;触发产生部,其将触发信号提供给连接于被测试器件的外部的机器;同步控制部,其根据图案产生部产生的测试图案中的至少一部分,将指示产生触发信号的同步信号输出给触发产生部;所述测试装置上产生与测试图案同步的触发信号。 |
申请公布号 |
CN102308226A |
申请公布日期 |
2012.01.04 |
申请号 |
CN201080006522.2 |
申请日期 |
2010.02.02 |
申请人 |
爱德万测试株式会社 |
发明人 |
岩本敏;泷泽茂树;谷塚浩一;松浦俊雄 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I;G01R31/3183(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 |
代理人 |
齐永红 |
主权项 |
一种测试装置,是测试被测试器件的测试装置,其特征在于,包括:图案产生部,其产生用于测试所述被测试器件的测试图案;信号提供部,其将与所述测试图案相对应的测试信号提供给所述被测试器件;触发产生部,其将触发信号提供给连接于所述被测试器件的外部的机器;同步控制部,其根据所述图案产生部已产生的测试图案的至少一部分,将指示产生所述触发信号的同步信号输出给所述触发产生部。 |
地址 |
日本东京都 |