分布式测试节点链及其多链系统

摘要

本发明提供一种分布式测试节点链系统及其多链系统，以解决背景技术引脚测试操作复杂的问题。分布式测试节点链由测试移位控制器、测试信号驱动器构成，所有的测试信号驱动器由三根信号线连接，它们分别是串行移位信号线(tp_ser_di)，串行掩码信号线(sft_mask)和串行时钟信号线(sft_clk)。本发明通过把一组零散的待测节点串接成链，经过多级驱动，最终输出需要观察的信号到共同的单一的端口。本发明降低了在芯片测试调试时探针对针的难度，增加接触的可靠性，提高测试信号质量；通过移位控制器可以方便的切换多个信号用以观测待测节点信号，减少了频繁的对针工作，提高了调试效率，进而缩短了产品调试开发周期。

主权项

分布式测试节点链，针对N个待测节点，其特征在于：包括分别连接至所述N个待测节点的N个测试信号驱动器和用以选通所述测试信号驱动器的移位控制器；所述测试信号驱动器包括寄存器、带一个反相输入的与非门和与门，所述移位控制器的输出端通过时钟信号线和串行移位数据线依次串接各个测试信号驱动器的寄存器，所述与非门的一个输入端经反相器连接至该测试信号驱动器对应的待测节点，与非门的另一个输入端连接至该测试信号驱动器的寄存器的串行移位数据输出端；与非门的输出端连接至与门的第一输入端，该与门的第二输入端与前一级测试信号驱动器的与门的输出端连接；第一级测试信号驱动器的与门的第二输入端置位，最后一级测试信号驱动器的与门的输出端引出设置最终测试金属点。