发明名称 一种图像法颗粒分析仪
摘要 本实用新型公开了一种图像法颗粒分析仪,其特点是,该分析仪从上到下依次为数字相机、显微物镜、反射光源、样品池或载波片、微距调整支架以及透射光源构成,所述的反射光源、透射光源均采用发光二极管,所述的样品池或载波片布置在微距调整支架上,测量时,调整该支架得到清晰的图像;透射光源亮,反射光源不亮,用透射法测量;反射光源亮,透射光源不亮,用反射法测量;显微物镜、发光光源、样品池构成一个整体部件,该整体部件可以很方便地与数字相机拆装相连,构成图像法颗粒粒度分析仪。本实用新型的有益效果是采用该结构后可以大大减小图像法颗粒粒度仪的尺寸,构成易于携带的具有宽粒度测量范围的微型图像法颗粒粒度仪。
申请公布号 CN202101916U 申请公布日期 2012.01.04
申请号 CN201120070621.9 申请日期 2011.03.17
申请人 上海理工大学 发明人 蔡小舒;苏明旭
分类号 G01N15/02(2006.01)I 主分类号 G01N15/02(2006.01)I
代理机构 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人 吴宝根
主权项 一种图像法颗粒分析仪,其特征在于,该分析仪从上到下依次为数字相机、显微物镜、反射光源、样品池或载波片以及微距调整支架、透射光源构成,所述显微物镜、反射光源、透射光源、样品池或载波片及微距调整支架构成一个整体部件。
地址 200093 上海市杨浦区军工路516号