发明名称 基于斜率、截距和相关系数的距离测度方法
摘要 一种基于斜率、截距和相关系数的距离测度方法,按如下步骤进行:一是确定特征空间,提取参照集和目标集,按样地地理坐标,提取样地特征空间并结合样地森林调查因子属性构建参照集,将整个研究区影像特征空间作目标集。二是构造SICD距离测度,先计算参照集和目标集特征空间之间的线性回归方程,再以三维空间点坐标表述SICD,当SICD越小时,目标集与参照集样本越相似,反之,越不相似。三是SICD距离测度的应用,计算两集的SICD并对SICD排序,选取k个距离最短的参照集,以距离倒数计算权重,权重乘以对应参照集求和得估算结果。用本方法构建的距离测度,能降低噪声影响、有效确定最近邻样本及次序,提高估算精度。
申请公布号 CN102306299A 申请公布日期 2012.01.04
申请号 CN201110207407.8 申请日期 2011.07.22
申请人 浙江农林大学 发明人 徐小军;周国模;杜华强
分类号 G06K9/62(2006.01)I 主分类号 G06K9/62(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人 周烽
主权项 一种基于斜率、截距和相关系数的距离侧度方法,其特征是按如下步骤进行:(1)确定特征空间,提取参照集和目标集:根据样地调查地理坐标,提取样地的特征空间并结合样地森林调查因子属性构建参照集,将整个研究区影像特征空间作为目标集;(2)构造SICD距离测度:a、计算参照集与目标集特征空间之间的线性回归方程:以目标集特征空间为自变量(y),参照集特征空间为因变量(x),通过最小二乘法建立目标集与每个参照集之间的回归方程:yi,l=axj,l+b+ε                     [1]其中:yi,l为第i个目标集第l个特征空间,xj,l为第j个参照集第l个特征空间,a和b分别为斜率和截距,ε为残差;b、以三维空间点坐标表述SICD,即求[a,b,r]与[1,0,1]两点之间的空间欧氏距离,为了消除a、b、r之间的尺度问题,分别对其进行归一化处理,SICD计算公式: <mrow> <msub> <mi>SICD</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>,</mo> <mi>j</mi> </mrow> </msub> <mo>=</mo> <msqrt> <mfrac> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>a</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>,</mo> <mi>j</mi> </mrow> </msub> <mo>-</mo> <mn>1</mn> <mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn> </msup> <mrow> <munderover> <mi>&Sigma;</mi> <mrow> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mi>n</mi> </munderover> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>a</mi> <mi>ij</mi> </msub> <mo>-</mo> <mn>1</mn> <mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn> </msup> </mrow> </mfrac> <mo>+</mo> <mfrac> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>b</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>,</mo> <mi>j</mi> </mrow> </msub> <mo>-</mo> <mn>0</mn> <mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn> </msup> <mrow> <munderover> <mi>&Sigma;</mi> <mrow> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mi>n</mi> </munderover> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>b</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>,</mo> <mi>j</mi> </mrow> </msub> <mo>-</mo> <mn>0</mn> <mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn> </msup> </mrow> </mfrac> <mo>+</mo> <mfrac> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>r</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>,</mo> <mi>j</mi> </mrow> </msub> <mo>-</mo> <mn>1</mn> <mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn> </msup> <mrow> <munderover> <mi>&Sigma;</mi> <mrow> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mi>n</mi> </munderover> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>r</mi> <mi>ij</mi> </msub> <mo>-</mo> <mn>1</mn> <mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn> </msup> </mrow> </mfrac> </msqrt> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>[</mo> <mn>2</mn> <mo>]</mo> </mrow>其中:ri,j为第i个目标集与第j个参照集的相关系数,n为参照集样本个数;判断准则为:SICD越小,说明目标集与参照集样本越相似,反之,越不相似;(3)SICD距离测度的应用:计算目标集与参照集的SICD并对SICD排序,选取k个距离最短的参照集,以距离倒数计算权重,最后将权重乘以对应参照集并求和即得到估算结果。
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