发明名称 | 基于介质微球的荧光相关谱分析方法和装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于介质微球的荧光相关谱分析方法和装置,该方法使用径向偏振光和切向偏振光分别作为荧光激发光束和荧光抑制光束,依次通过显微物镜的聚焦和介质微球的纳米喷射后,再作用于荧光样品并激发荧光信号,通过对荧光信号的收集和分析处理完成荧光相关谱分析。该装置依次包括:产生径向偏振光和切向偏振光的光源、第一显微物镜、介质微球、放置有荧光样品的样品架和第二显微物镜,还包括与第二显微物镜连接的荧光信号分析处理装置。第一显微物镜、介质微球、荧光样品和第二显微物镜均处于径向偏振光和切向偏振光的同轴光路上,且介质微球位于第一显微物镜的物方焦平面上。本发明可以有效应用于高浓度荧光分子样品中。 | ||
申请公布号 | CN102305782A | 申请公布日期 | 2012.01.04 |
申请号 | CN201110228435.8 | 申请日期 | 2011.08.10 |
申请人 | 浙江大学 | 发明人 | 匡方;郝翔;刘旭;王婷婷 |
分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人 | 周丽娟 |
主权项 | 一种基于介质微球的荧光相关谱分析方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)使用径向偏振光作为荧光激发光束,切向偏振光作为荧光抑制光束,将所述的荧光激发光束和荧光抑制光束同轴平行入射到显微物镜中,并被所述的显微物镜同时聚焦在介质微球上;所述的介质微球位于所述的显微物镜的物方焦平面上,所述的介质微球直径为1~10um,折射率为1.4~2;(2)所述的介质微球对经步骤(1)中显微物镜聚焦后的荧光激发光束和荧光抑制光束进行再次聚焦,在所述的介质微球下表面产生纳米喷射;(3)将步骤(2)所产生的纳米喷射作用于荧光样品并激发荧光信号;(4)收集步骤(3)所激发的荧光信号并进行分析处理,得到荧光相关谱。 | ||
地址 | 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号 |