发明名称 折射率测量装置
摘要 一种光学测量技术领域的折射率测量装置,包括:光源输出装置、耦合器、环形器、探测装置、存储装置以及样品池,其中:光源输出装置的输出端与耦合器相连接,耦合器的输出端分别与探测装置的第一输入端和环形器相连接,环形器的输出端分别与探测装置的第二输入端及样品池相连接,探测装置的输出端与存储装置相连接。本发明可测量任意性质的流体且不存在测量折射率上限的问题,结构简单,成本低,易于操作。
申请公布号 CN101750399B 申请公布日期 2012.01.04
申请号 CN201010300122.4 申请日期 2010.01.08
申请人 上海交通大学 发明人 邵朵;陈险峰;田凌浩;陈婧非
分类号 G01N21/41(2006.01)I 主分类号 G01N21/41(2006.01)I
代理机构 上海交达专利事务所 31201 代理人 王锡麟;王桂忠
主权项 一种折射率测量装置,包括:光源输出装置、耦合器、环形器、探测装置、存储装置以及样品池,其特征在于:光源输出装置的输出端与耦合器相连接,耦合器的输出端分别与探测装置的第一输入端和环形器相连接,环形器的输出端分别与探测装置的第二输入端及样品池相连接,探测装置的输出端与存储装置相连接;所述的光源输出装置为通信C波段可调谐激光器;所述的耦合器为通信C波段的1×2的耦合器;所述的环形器为通信C波段环形器;所述的探测装置为通信C波段光功率计。
地址 200240 上海市闵行区东川路800号