发明名称 |
利用差值进行二次分配的扫描链平衡方法 |
摘要 |
利用差值进行二次分配的扫描链平衡方法。它涉及系统芯片SOC测试技术领域。它为了缩短SOC的测试时间,进而降低测试费用。首先,将IP核内部各扫描链按照降序排列,从中找到最大的扫描链S(max),将最大的扫描链S(max)除以调整系数adj的长度作为基准长度,最接近于基准长度的扫描链设定为基准的扫描链S(adj);然后,将IP核内部各扫描链的长度与基准的扫描链S(adj)的长度进行比较,大于基准的扫描链S(adj)则设定为长扫描链S>,小于等于基准的扫描链S(adj)则设定为短扫描链S≤,将所有长扫描链S>按照基准的扫描链S(adj)的长度进行第一次分配;再计算出每一个长扫描链S>与基准的扫描链S(adj)的差值di’,将所有短扫描链S≤与所有差值di’从大到小排序后,进行第二次分配。它应用于集成电路中。 |
申请公布号 |
CN102305911A |
申请公布日期 |
2012.01.04 |
申请号 |
CN201110162065.2 |
申请日期 |
2011.06.16 |
申请人 |
哈尔滨工业大学 |
发明人 |
邓立宝;俞洋;乔立岩;付宁;彭喜元 |
分类号 |
G01R31/3185(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/3185(2006.01)I |
代理机构 |
哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 |
代理人 |
张果瑞 |
主权项 |
利用差值进行二次分配的扫描链平衡方法,其特征在于它的过程为:首先,将IP核内部各扫描链按照降序排列,从中找到最大的扫描链S(max),将最大的扫描链S(max)除以调整系数adj的长度作为基准长度,最接近于基准长度的扫描链设定为基准的扫描链S(adj);然后,将IP核内部各扫描链的长度与基准的扫描链S(adj)的长度进行比较,大于基准的扫描链S(adj)则设定为长扫描链S>,小于等于基准的扫描链S(adj)则设定为短扫描链S≤,将所有长扫描链S>按照基准的扫描链S(adj)的长度进行第一次分配;再计算出每一个长扫描链S>与基准的扫描链S(adj)的差值di’,将所有短扫描链S≤与所有差值di’从大到小排序后,进行第二次分配。 |
地址 |
150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |