发明名称 MS/MS型质谱分析装置
摘要 向碰撞室(14)内导入CID气体,在为了第3段四极杆(17)不进行实质上的质量分离而设定施加电压的状态下,第1段四极杆(13)一边进行规定范围的质量扫描一边实行质量电荷比为已知的标准试料的质量分析。由第1段四极杆(13)所挑选的前体离子得来的各种产物离子不发生分离地到达检测器(18)并被检测,因此,数据处理部(25)能够基于检测数据,取得反映了碰撞室(14)中的时间延迟的、向第1段四极杆(13)的施加电压和得到的离子的质量电荷比之间的关系。该关系被存储于校正数据存储部(26)中,在进行中性丢失扫描测量等时被利用,能够消除由碰撞室(14)中的时间延迟引起的质量偏离,在全部质量范围内以高灵敏度检测产物离子。另外,能够制成具有高精度的质量轴的质谱。
申请公布号 CN102308361A 申请公布日期 2012.01.04
申请号 CN200980156241.2 申请日期 2009.02.05
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 奥村大辅
分类号 H01J49/42(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I 主分类号 H01J49/42(2006.01)I
代理机构 上海市华诚律师事务所 31210 代理人 肖华
主权项 一种MS/MS型质谱分析装置,包括从各种离子中选择具有特定的质量电荷比的离子作为前体离子的第1质量分离部;使所述前体离子与碰撞诱导解离气体碰撞并分裂的碰撞室;以及从通过该分裂生成的各种产物离子中选择具有特定质量电荷比的离子的第2质量分离部,所述MS/MS型质谱分析装置的特征在于,还包括:a)校正用分析实行单元,所述校正用分析实行单元向所述碰撞室内导入碰撞诱导解离气体,且在所述第2质量分离部不进行实质的质量分离的状态下,通过在所述第1质量分离部进行质量扫描并分析已知质量电荷比的试料来收集质量分析数据;b)校正信息存储单元,所述校正信息存储单元根据通过所述校正用分析实行单元收集到的质量分析数据,制成并存储反映出所述碰撞室内的离子的时间延迟的所述第1质量分离部的质量校正信息;以及c)实分析实行单元,所述实分析实行单元至少在进行中性丢失扫描或者前体离子扫描时,利用所述校正信息存储单元所存储的质量校正信息控制所述第1质量分离部的质量扫描,收集相对于目标试料的质量分析数据。
地址 日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地