箱式硅钢片环形对比试样

摘要

本实用新型涉及硅钢片环形对比试样。一种箱式硅钢片环形对比试样，它包括绕有初级绕组和次级绕组的环形硅钢片试样，还包括：一个密封箱体，所述环形硅钢片试样置于其中；四个限位固定柱，它们分布于箱体底部四角，对角线上的两个限位固定柱距离等于环形硅钢片试样的外径；初级接线柱和次级接线柱，它们分别和初级绕组和次级绕组连接；所述硅钢片式样包括叠放的环形硅钢片，硅钢片外依次包裹的电磁绝缘层、单匝均匀绕的次级绕组、电磁绝缘层和双匝均匀绕的初级绕组，所述环形硅钢片有效磁路长度和对应的标准爱泼斯坦方圈的长度lm一致。本实用新型能防止试样劣化，而且携带方便。

主权项

1.一种箱式硅钢片环形对比试样，它包括绕有初级绕组和次级绕组的环形硅钢片试样，其特征在于，它还包括：一个密封箱体，所述环形硅钢片试样置于其中；四个限位固定柱，它们分布于箱体底部四角，对角线上的两个限位固定柱距离等于环形硅钢片试样的外径；初级接线柱和次级接线柱，它们分别和初级绕组和次级绕组连接；所述硅钢片式样包括叠放的环形硅钢片，硅钢片外依次包裹的电磁绝缘层、单匝均匀绕的次级绕组、电磁绝缘层和双匝均匀绕的初级绕组，所述环形硅钢片有效磁路长度和对应的标准爱泼斯坦方圈的长度l_m一致，所述环形硅钢片的层数n由需要模拟的爱泼斯坦试样的有效质量来确定，即：；D/d<1.25；；n=h/δ；其中，D和d分别为环形硅钢片的外径和内径；     R和r分别归环形硅钢片内外半径和内半径；为硅钢片密度；为环形样厚度δ为环形硅钢片厚度。