发明名称 光学资讯处理装置及方法
摘要
申请公布号 TWI355656 申请公布日期 2012.01.01
申请号 TW096109513 申请日期 2007.03.20
申请人 大宇电子股份有限公司 发明人 丁奎一;金永
分类号 G11B7/0065 主分类号 G11B7/0065
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种光学资讯处理方法,包含如下之步骤:把参考光束照射到一个光学资讯记录媒体上,该记录媒体具有数个记录轨道,该记录轨道包含一个目标记录区域及包括一个第一和第二记录区域的相邻区域,该第一和第二记录区域在一具有偏离一预定角度之多个角度的轨道方向上连续地设置于该光学记录媒体上;分离一主要读出光束及第一和第二邻近读出光束,该主要读出光束是藉由该参考光束于该目标记录区域的干涉图案的绕射所再生,该第一和第二邻近读出光束是藉由该参考光束于该第一和第二记录区域的干涉图案的绕射所再生;及侦测经分别分开之该第一和第二邻近读出光束的强度,并且藉由将经分开之该等第一邻近读出光束间之强度差异和经分开之该等第二邻近读出光束间的强度差异相加,来计算一个寻轨错误;藉由将经分开之该等第一邻近读出光束之强度和的最大值和经分开之该等第二邻近读出光束之强度和的最大值作比较,来计算一个角度伺服错误。如申请专利范围第1项所述之光学资讯处理方法,其中,该寻轨错误是被计算为经分开之该等第一邻近读出光束之强度间之差异,与经分开之该等第二邻近读出光束之强度间之差异的一总和,除以经分开之该等第一邻近读出光束之强度与经分开之该等第二邻近读出光束之强度的总和。如申请专利范围第1项所述之光学资讯处理方法,其中,该角度伺服错误是介于经分开之该等第一邻近读出光束之强度和之最大值与经分开之该等第二邻近读出光束之强度和之最大值间的一差值除以经分开之该等第一邻近读出光束之强度和之该最大值与经分开之该等第二邻近读出光束之强度和之该最大值的总和。如申请专利范围第1项所述之光学资讯处理方法,其中,该角度伺服错误是该参考光束之一入射角度及该光学资讯记录媒体之一倾斜角度的其中之一。一种光学资讯处理装置,包含:一个发射一参考光束的光源;一个光学系统,其把该参考光束照射在一个光学资讯记录媒体上,该记录媒体具有数个记录轨道,该记录轨道包含一个目标记录区域及包括一个第一和第二记录区域的相邻区域,该第一和第二记录区域在一具有偏离一预定角度之多个角度的轨道方向上连续地设置于该光学记录媒体上;一个邻近光束分离器,其分离一主要读出光束及第一和第二邻近读出光束,该主要读出光束是藉由该参考光束于该目标记录区域的干涉图案的绕射所再生,该第一和第二邻近读出光束是藉由该参考光束于该第一和第二记录区域的干涉图案的绕射所再生;一个光学资讯侦测器,其侦测来自该主要读出光束的光学资讯;第一和第二光侦测器,其分别侦测自该第一和第二记录区域再生的该第一和第二邻近读出光束;及分别分开该第一和第二邻近读出光束;以及一个讯号处理单元,其接收由该第一和第二光侦测器所侦测之该第一和第二邻近读出光束的强度,并且藉由将经分开之该等第一邻近读出光束间之强度差异和经分开之该等第二邻近读出光束间的强度差异相加,来计算一个寻轨错误;以及藉由将经分开之该等第一邻近读出光束之强度和的最大值和经分开之该等第二邻近读出光束之强度和的最大值作比较,来计算一个角度伺服错误。如申请专利范围第5项所述之光学资讯处理装置,其中,该讯号处理单元组配以计算该寻轨错误为经分开之该等第一邻近读出光束之强度间之差异,与经分开之该等第二邻近读出光束之强度间之差异的一总和,除以经分开之该等第一邻近读出光束之强度与经分开之该等第二邻近读出光束之强度的总和。如申请专利范围第5项所述之光学资讯处理装置,其中,该讯号处理单元组配以计算该角度伺服错误是介于经分开之该等第一邻近读出光束之强度和之最大值与经分开之该等第二邻近读出光束之强度和之最大值间的一差值除以经分开之该等第一邻近读出光束之强度和之该最大值与经分开之该等第二邻近读出光束之强度和之该最大值的总和。
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