发明名称 Halbleitervorrichtung mit isoliertem Gate
摘要 Halbleitervorrichtung mit isoliertem Gate, mit: einem Halbleitersubstrat (2) eines ersten Leitungstyps mit einer ersten Hauptoberfläche und einer zweiten Hauptoberfläche, einer Basisschicht (3) eines zweiten Leitungstyps, die benachbart zu der ersten Hauptoberfläche des Halbleitersubstrates (2) vorgesehen ist, einer Mehrzahl von Gräben (4), die so ausgebildet sind, dass sie durch die Basisschicht (3) und in die erste Hauptoberfläche des Halbleitersubstrates (2) dringen, wobei die Mehrzahl der Gräben (4) in Streifen angeordnet ist, Isolationsfilmen (5), welche die Innenflächen der Gräben (4) bedecken, Gateelektroden (5a), die auf den Isolationsfilmen (5) so ausgebildet sind, dass sie die Gräben (4) ausfüllen, einer Mehrzahl von ersten Emitter-Dotierungsschichten (9), die in einem Oberflächenschichtabschnitt der Basisschicht (3) so ausgebildet sind, dass sie sich in einer Richtung erstrecken, welche die Gräben (4) schneidet, wobei die Mehrzahl der ersten Emitter-Dotierungsschichten (9) in Streifen angeordnet ist, Kontaktregionen (8), die über der ersten Hauptoberfläche des Halbleitersubstrates...
申请公布号 DE102007024112(B4) 申请公布日期 2011.12.29
申请号 DE200710024112 申请日期 2007.05.24
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP. 发明人 HAMAGUCHI, TAKUYA;HARUGUCHI, HIDEKI;TSUNODA, TETSUJIRO
分类号 H01L29/739 主分类号 H01L29/739
代理机构 代理人
主权项
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