发明名称 | 一种显影方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种显影方法,包括将待显影处理的晶圆固定在晶圆支撑座上;在待显影处理的晶圆上实施预湿工艺;向待显影处理的晶圆喷涂显影液,使光刻胶层中被曝光的区域与显影液发生化学反应而溶解;对完成显影处理的晶圆进行清洗、甩干。本发明提供的显影方法,可使晶圆的光刻胶层表面始终处于湿润状态,因此,会在后续清洗步骤中更容易去除在晶圆表面形成的残留缺陷;其次,由于以不同的转速将预湿液喷涂到晶圆上,因此,可以在整个晶圆表面上形成均匀、完整的预湿液膜,从而可以在后续的清洗步骤中去除在晶圆表面上形成的残留缺陷,进而避免了由于显影工艺的不足造成的后续刻蚀或离子注入的缺陷,最终提高了产品的稳定性和良率。 | ||
申请公布号 | CN102298275A | 申请公布日期 | 2011.12.28 |
申请号 | CN201010218057.0 | 申请日期 | 2010.06.23 |
申请人 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 发明人 | 吕炜 |
分类号 | G03F7/30(2006.01)I | 主分类号 | G03F7/30(2006.01)I |
代理机构 | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人 | 董巍;徐丁峰 |
主权项 | 一种显影方法,包括:将待显影处理的晶圆固定在晶圆支撑座上;在所述待显影处理的晶圆上实施预湿工艺;向所述待显影处理的晶圆喷涂显影液,使光刻胶层中被曝光的区域与所述显影液发生化学反应而溶解;对喷涂完所述显影液显影反应完成的晶圆进行清洗、甩干。 | ||
地址 | 201203 上海市浦东新区张江路18号 |