发明名称 |
分析二维轨迹以产生至少一非线性指标的方法及触控模组 |
摘要 |
分析二维轨迹以产生至少一非线性指标的方法与使用该方法的触控模组,其中该方法包括:撷取二维轨迹;根据该二维轨迹依序产生复数个位移单元,其中每一位移单元是包含该二维轨迹于一预设时距内所移动的位移量与其位移方向;依序将每一位移单元的位移量与一参考值相比较;当该位移单元的位移量大于该参考值时,计算该位移单元的位移方向与前一序次位移单元的位移方向所形成的夹角;依序累计该夹角以获得一累计角,其中该累计角是包含一累计值以及一正负号;以及将该累计角度转换为至少一非线性指标。 |
申请公布号 |
CN102298456A |
申请公布日期 |
2011.12.28 |
申请号 |
CN201010207226.0 |
申请日期 |
2010.06.23 |
申请人 |
陞达科技股份有限公司 |
发明人 |
林招庆;李文定;沈宗毅 |
分类号 |
G06F3/041(2006.01)I |
主分类号 |
G06F3/041(2006.01)I |
代理机构 |
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 |
代理人 |
孙皓晨 |
主权项 |
一种分析二维轨迹以产生至少一非线性指标的方法,其特征在于,包括以下步骤:A1:撷取二维轨迹,其中该二维轨迹为一随时间排序的二维座标位置;A2:根据该二维轨迹依序产生复数个位移单元,其中每一位移单元包含该二维轨迹于一预设时距内所移动的位移量与其位移方向;A3:依序将每一位移单元的位移量与一参考值相比较;当该位移单元的位移量大于该参考值时,计算该位移单元的位移方向与前一序次位移单元的位移方向所形成的夹角;A4:依序累计该夹角以获得一累计角,其中该累计角是包含一累计值以及一正负号;以及A5:将该累计角转换为至少一非线性指标。 |
地址 |
中国台湾台北市 |