发明名称 一种铁电薄膜栅增强型GaN异质结场效应晶体管
摘要 一种铁电薄膜栅增强型GaN异质结场效应晶体管,属于微电子技术领域。包括(0001)晶向的GaN薄膜和AlxGa1-xN(0<x≤1)薄膜形成的GaN异质结;在AlxGa1-xN薄膜上具有栅、源、漏电极,在栅电极与AlxGa1-xN薄膜之间具有栅介质薄膜;所述栅介质薄膜或者是LiNbO3(LNO)铁电薄膜、或者是LiTaO3(LTO)铁电薄膜、或者是M元素掺杂的LNO或LTO铁电薄膜。由于LNO或LTO铁电薄膜中的C+方向铁电自发极化的作用,导致AlGaN/GaN异质结中的2DEG被完全耗尽,从而使得本发明提供的铁电薄膜栅GaN异质结场效应晶体管表现出常关特征,即形成增强型器件。本发明提供的铁电薄膜栅增强型GaN异质结场效应晶体管具有结构简单的特点,且实现工艺简单、重复性好、稳定性和可靠性高。
申请公布号 CN102299176A 申请公布日期 2011.12.28
申请号 CN201110251405.9 申请日期 2011.08.30
申请人 电子科技大学 发明人 朱俊;郝兰众;李言荣;张万里
分类号 H01L29/778(2006.01)I;H01L29/51(2006.01)I 主分类号 H01L29/778(2006.01)I
代理机构 电子科技大学专利中心 51203 代理人 葛启函
主权项 一种铁电薄膜栅增强型GaN异质结场效应晶体管,包括位于衬底表面、(0001)晶向的GaN薄膜;位于GaN薄膜表面、(0001)晶向的AlxGa1‑xN薄膜,其中0<x≤1;所述AlxGa1‑xN薄膜与GaN薄膜形成GaN异质结;在所述AlxGa1‑xN薄膜上具有栅、源、漏电极,其中栅电极位于源电极和漏电极之间,且在栅电极与AlxGa1‑xN薄膜之间具有栅介质薄膜;其特征在于,所述栅介质薄膜或者是LiNbO3(LNO)铁电薄膜、或者是LiTaO3(LTO)铁电薄膜、或者是M元素掺杂的LNO或LTO铁电薄膜。
地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
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