发明名称 |
一种铁电薄膜栅增强型GaN异质结场效应晶体管 |
摘要 |
一种铁电薄膜栅增强型GaN异质结场效应晶体管,属于微电子技术领域。包括(0001)晶向的GaN薄膜和AlxGa1-xN(0<x≤1)薄膜形成的GaN异质结;在AlxGa1-xN薄膜上具有栅、源、漏电极,在栅电极与AlxGa1-xN薄膜之间具有栅介质薄膜;所述栅介质薄膜或者是LiNbO3(LNO)铁电薄膜、或者是LiTaO3(LTO)铁电薄膜、或者是M元素掺杂的LNO或LTO铁电薄膜。由于LNO或LTO铁电薄膜中的C+方向铁电自发极化的作用,导致AlGaN/GaN异质结中的2DEG被完全耗尽,从而使得本发明提供的铁电薄膜栅GaN异质结场效应晶体管表现出常关特征,即形成增强型器件。本发明提供的铁电薄膜栅增强型GaN异质结场效应晶体管具有结构简单的特点,且实现工艺简单、重复性好、稳定性和可靠性高。 |
申请公布号 |
CN102299176A |
申请公布日期 |
2011.12.28 |
申请号 |
CN201110251405.9 |
申请日期 |
2011.08.30 |
申请人 |
电子科技大学 |
发明人 |
朱俊;郝兰众;李言荣;张万里 |
分类号 |
H01L29/778(2006.01)I;H01L29/51(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/778(2006.01)I |
代理机构 |
电子科技大学专利中心 51203 |
代理人 |
葛启函 |
主权项 |
一种铁电薄膜栅增强型GaN异质结场效应晶体管,包括位于衬底表面、(0001)晶向的GaN薄膜;位于GaN薄膜表面、(0001)晶向的AlxGa1‑xN薄膜,其中0<x≤1;所述AlxGa1‑xN薄膜与GaN薄膜形成GaN异质结;在所述AlxGa1‑xN薄膜上具有栅、源、漏电极,其中栅电极位于源电极和漏电极之间,且在栅电极与AlxGa1‑xN薄膜之间具有栅介质薄膜;其特征在于,所述栅介质薄膜或者是LiNbO3(LNO)铁电薄膜、或者是LiTaO3(LTO)铁电薄膜、或者是M元素掺杂的LNO或LTO铁电薄膜。 |
地址 |
611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 |