| 发明名称 | 用于测试分选机的插入件和用于操作该插入件的设备 | ||
| 摘要 | 一种用于测试分选机的插入件，其包括：主体，所述主体包括在其中装入半导体器件的装载槽；和一对锁闭装置，用于持有被装入所述装载槽中的所述半导体器件的两端，其中，在所述装载槽的底部具有暴露孔和多个出入孔，所述暴露孔用于向下暴露所装入的半导体器件的端部，所述多个出入孔用于引导所述半导体器件的装载通过所述一对锁闭装置的操作。 | ||
| 申请公布号 | CN102299088A | 申请公布日期 | 2011.12.28 |
| 申请号 | CN201110170441.2 | 申请日期 | 2011.06.20 |
| 申请人 | 泰克元有限公司 | 发明人 | 罗闰成;具泰兴;柳晛准;黄正佑 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/66(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人 | 余朦;王艳春 |
| 主权项 | 一种用于测试分选机的插入件，包括：主体，所述主体包括在其中装载半导体器件的装载槽；和一对锁闭装置，用于保持装载入所述装载槽中的所述半导体器件的两端，其中，在所述装载槽的底部具有暴露孔和多个出入孔，所述暴露孔用于向下暴露所装载的半导体器件的端部，所述多个出入孔用于通过所述一对锁闭装置的操作引导所述半导体器件的装载。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||