发明名称 Buried gate in semiconductor device and the method for fabricating the same
摘要 <p>본 발명의 반도체 소자의 매립 게이트 형성방법은, 반도체 기판의 활성영역 내에 게이트 트렌치를 형성하는 단계; 게이트 트렌치를 장벽 금속막 및 금속막으로 매립하는 단계; 금속막 및 장벽 금속막을 리세스하여 게이트 트렌치를 일부 매립하는 매립 게이트 전극을 형성하는 단계; 매립 게이트 전극의 장벽 금속막을 금속막의 표면보다 낮은 위치까지 리세스 시키는 단계; 및 매립 게이트 전극 및 게이트 트렌치의 노출 부분을 캡핑막으로 매립하는 단계를 포함한다.</p>
申请公布号 KR101096265(B1) 申请公布日期 2011.12.22
申请号 KR20090133250 申请日期 2009.12.29
申请人 发明人
分类号 H01L21/336;H01L21/8242;H01L27/108 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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