发明名称 | 驻波比获取方法及装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种驻波比获取方法及装置,该方法包括:分别获取入射信号和反射信号的物理属性值的矢量表示式;将驻波比检测装置抽象为矢量模型,矢量模型对应的物理表达式的参数值包括使用矢量表示的入射信号的物理属性值和反射信号的物理属性值,矢量模型对应的表达式的值为反射系数,其中,反射系数为矢量值;根据反射系数获取驻波比。通过本发明提高了驻波比检测的精确度。 | ||
申请公布号 | CN102291192A | 申请公布日期 | 2011.12.21 |
申请号 | CN201110269219.8 | 申请日期 | 2011.09.13 |
申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 李凡龙 |
分类号 | H04B17/00(2006.01)I | 主分类号 | H04B17/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;梁丽超 |
主权项 | 一种驻波比获取方法,其特征在于包括:分别获取入射信号和反射信号的物理属性值的矢量表示式;将驻波比检测装置抽象为矢量模型,所述矢量模型对应的物理表达式的参数值包括使用矢量表示的所述入射信号的物理属性值和所述反射信号的物理属性值,所述矢量模型对应的表达式的值为反射系数,其中,所述反射系数为矢量值;根据所述反射系数获取所述驻波比。 | ||
地址 | 518057 广东省深圳市南山区科技南路55号 |