| 发明名称 | 配置为至少部分地插入到混浊介质中的光学检查装置 | ||
| 摘要 | 提供了一种光学检查装置(10)，被配置为至少部分地插入到混浊介质中。所述光学检查装置包括杆部(21)，所述杆部(21)被配置为插入到所述混浊介质中，所述杆部(21)包括尖端部(22)，所述尖端部(22)被配置为在插入到所述混浊介质中期间的最前部。至少一个光源装置，被配置为发射宽带光的光束(11)，并且设置在所述杆部(21)的区域中。所述宽带光的光束(11)包括受到不同调制的不同波长带(2a，2b，…，2n)。至少一个光电探测器(27a，27b，27c)，用于探测宽带光，并且设置在所述杆部(21)的被配置为插入到所述混浊介质中的区域中。 | ||
| 申请公布号 | CN102292019A | 申请公布日期 | 2011.12.21 |
| 申请号 | CN201080005052.8 | 申请日期 | 2010.01.18 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | A·E·德雅尔丹;M·B·范德马克;B·H·W·亨德里克斯;G·T·霍夫特 |
| 分类号 | A61B5/00(2006.01)I | 主分类号 | A61B5/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 陈松涛;蹇炜 |
| 主权项 | 一种光学检查装置(10)，被配置为至少部分地插入到混浊介质中，所述光学检查装置包括杆部(21)，所述杆部(21)被配置为插入到所述混浊介质中，所述杆部(21)包括尖端部(22)，所述尖端部(22)被配置为在插入到所述混浊介质中期间为最前部，其中被配置为发射宽带光的光束(11)的至少一个光源装置设置在所述杆部(21)的被配置为插入到所述混浊介质中的区域中，所述宽带光的光束(11)包括受到不同调制的不同波长带(2a，2b，...，2n)；以及用于探测宽带光的至少一个光电探测器(27a，27b，27c)设置在所述杆部(21)的被配置为插入到所述混浊介质中的所述区域中。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||