发明名称 | 多通道红外探测器中条纹非均匀性实时校正方法 | ||
摘要 | 本发明公开一种多通道红外探测器中条纹非均匀性实时校正方法,包括如下步骤:(1)利用标准参考辐射源,初始化多通道红外探测器的条纹非均匀性变化区间;(2)输入原始红外图像;(3)校正原始红外图像的点状非均匀性;(4)对点校图像高通滤波;(5)对点校图像高频分量像素点进行筛选;(6)计算第j读出通道条纹非均匀性的校正参数;(7)对点校图像的条纹非均匀性进行抑制,输出校正图像;(8)更新第j读出通道条纹非均匀性的变化区间;(9)输入新一帧原始红外图像,跳转至步骤(3)。本发明对条纹非均匀性进行校正,进一步改善了多通道红外探测器的成像质量,极大提高了图像的校正精度。 | ||
申请公布号 | CN102289788A | 申请公布日期 | 2011.12.21 |
申请号 | CN201110162823.0 | 申请日期 | 2011.06.17 |
申请人 | 中国电子科技集团公司第二十八研究所 | 发明人 | 赵春光;王寿峰;白俊奇;孙宁 |
分类号 | G06T5/00(2006.01)I | 主分类号 | G06T5/00(2006.01)I |
代理机构 | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人 | 柏尚春 |
主权项 | 一种多通道红外探测器中条纹非均匀性实时校正方法,其特征在于包括如下步骤:(1)利用标准参考辐射源,初始化多通道红外探测器的条纹非均匀性变化区间[NUmin(j),NUmax(j)];NUmin(j)和NUmax(j)分别表示第j读出通道变化区间的最小值和最大值,第j读出通道对应于图像的第j列;(2)输入原始红外图像Xraw;(3)校正原始红外图像的点状非均匀性,输出点校图像Xfix;(4)构造读出通道方向的高通滤波器,对点校图像Xfix高通滤波,得到Xfix的高频分量Xhigh;(5)对点校图像Xfix高频分量Xhigh像素点进行筛选,消除目标高频分量对条纹非均匀性校正参数的影响;(6)基于步骤(5)计算第j读出通道条纹非均匀性的校正参数O(j);(7)对点校图像Xfix的条纹非均匀性进行抑制,输出校正图像Xout;(8)更新第j读出通道条纹非均匀性的变化区间[NUmin(j),NUmax(j)];(9)输入新一帧原始红外图像,跳转至步骤(3)。 | ||
地址 | 210007 江苏省南京市白下区苜蓿园东街1号 |