| 发明名称 | 一种光源老化试验测量装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种光源老化试验测量装置，装置设有稳定发光的参比光源，在被测光源老化前后，测量仪表通过比较测量参比光源和被测光源的光学参数，以此消除或校正了由测量仪表自身变化而引入的不确定因素，大幅提高了光源老化试验的准确性。 | ||
| 申请公布号 | CN102288389A | 申请公布日期 | 2011.12.21 |
| 申请号 | CN201110122011.3 | 申请日期 | 2011.05.11 |
| 申请人 | 杭州远方光电信息股份有限公司 | 发明人 | 潘建根 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种光源老化试验测量装置，包括试验室(1)，在试验室(1)内设有被测光源(2)和取样装置(4)，其特征在于，试验室(1)内设有参比光源(6)，或者所述的参比光源(6)设置在试验室(1)外，通过导光器(14)将参比光源(6)所发出的光线导入到试验室(1)内；所述的被测光源(2)和参比光源(6)与可程控供电电源(3)电连接；所述的取样装置(4)接收被测光源(2)和参比光源(6)发出的光线，并将光信号传输到与其相连接的测光仪表(5)中。 | ||
| 地址 | 310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号 | ||