发明名称 测量光纤不对称性时延的方法及装置
摘要 本发明公开了一种测量光纤不对称性时延的方法及装置,方法为:RTU配置光纤线路两端Master和Slave的工作状态;RTU下指令测第一光纤,Master侧PPU发送报文,记录发送时间戳t1传给Slave;Slave侧PPU接收报文,记录到达时间戳t2,对应t1储存;RTU显示第一光纤测量完、准备测量第二光纤,对换两根光纤;RTU下指令测量第二光纤,Master侧PPU发送报文,记录发送时间戳t`1传给Slave;Slave侧PPU接收报文,记录到达时间戳t`2,对应t`1储存;ACU算出不对称性时延补偿值发给RTU。本发明不受场地限制,节约成本和人力,简单快捷,稳定时间短,测试效率和精度高。
申请公布号 CN102291178A 申请公布日期 2011.12.21
申请号 CN201110264468.8 申请日期 2011.09.08
申请人 烽火通信科技股份有限公司 发明人 陈朝辉;方琼;孙涛
分类号 H04B10/08(2006.01)I 主分类号 H04B10/08(2006.01)I
代理机构 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 代理人 魏殿绅;庞炳良
主权项 一种测量光纤不对称性时延的方法,其特征在于包括以下步骤:(1)选择需要测试的光纤线路,所述光纤线路中包含两根光纤,远程控制单元RTU配置光纤线路两端光节点的测试主端口Master和测试从端口Slave的工作状态;(2)RTU下达测量第一根光纤的指令,Master侧协议处理单元PPU连续发送测试报文,记录每个测试报文发送时刻的时间戳t1,并将t1传送给Slave;Slave侧PPU每接收到一个测试报文,记录该测试报文到达时刻的时间戳t2,与Master传送来的t1对应储存;直到采集足够组数的t1和t2,向RTU返回第一根光纤测量完成的信息;(3)RTU显示第一根光纤测量完成、准备测量第二根光纤的信息时,通知现场将第一根光纤和第二根光纤对换;(4)RTU下达测量第二根光纤的指令,Master侧PPU连续发送测试报文,记录每个测试报文发送时刻的时间戳t`1,并将t`1传送给Slave;Slave侧PPU每接收到一个测试报文,记录该测试报文到达时刻的时间戳t`2,与Master传送来的t`1对应储存;直到采集足够组数的t`1和t`2,通知分析计算单元ACU开始启动;(5)ACU对采集的数据进行分析计算,将得出的光纤线路不对称性时延的补偿值t发送给RTU。
地址 430074 湖北省武汉市东湖开发区关东科技园东信路5号
您可能感兴趣的专利