多轴多转向测试设备

摘要

本实用新型涉及一种多轴多转向测试设备，包括有一测试载盘模块，设有复数个可容纳芯片的承座；一夹持单元模块，包括一压合盖及一承载座，所述测试载盘夹持固定于该压合盖与承载座之间；一第一转向模块，其设有第一动力装置、第一传动装置及一框架，第一传动装置与框架枢接，该框架内枢接着前述夹持单元模块；以及一第二转向模块，设置于前述框架外壁，包括第二动力装置及第二传动装置，该第二传动装置与前述夹持单元模块枢接，所述第一传动装置之转动轴与第二传动装置之转动轴不平行。本实用新型能够一次对复数芯片进行多轴向翻转测试，并可避免连接线交错混杂的问题。

主权项

一种多轴多转向测试设备，其特征在于，包括有:一测试载盘模块，设有复数个可容纳芯片的承座；一夹持单元模块，包括一压合盖及一承载座，所述测试载盘夹持固定于该压合盖与承载座之间；一第一转向模块，其设有第一动力装置、第一传动装置及一框架，第一传动装置与框架枢接，该框架内枢接着前述夹持单元模块；以及一第二转向模块，设置于前述框架外壁，包括第二动力装置及第二传动装置，该第二传动装置与前述夹持单元模块枢接，所述第一传动装置之转动轴与第二传动装置之转动轴不平行。