| 摘要 |
Полупроводниковый прибор, характеризующийся тем, что он включает корпус и кристалл интегральной схемы, причем в состав материала корпуса полупроводникового прибора введена поликристаллическая добавка (наполнитель), которая выявляется методами рентгеновской дифракции или электронографии, причем условием подлинности для полупроводникового прибора, содержащего поликристаллическую добавку (наполнитель) в составе материала корпуса, является совпадение характерного спектра рентгеновской дифракции или электронографии прибора с эталонным. |
