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Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und Verfahren zum Untersuchen von Leiterplatten oder Baugruppen. Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist ein fingertester mit zumindest einem optischen Testfinger, der eine optische Detektionseinrichtung aufweist. Die optische Detektionseinrichtung ist mit einer Autofokussiereinrichtung versehen, um ein Detektionselement automatisch auf die Oberfläche einer im Prüfbereich angeordneten Leiterplatte zu fokussieren.
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