| 发明名称 | 一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统，包括去除铜基的μm级纯超导丝材，以及分别与所述μm级纯超导丝材配合设置的μm级超导丝材光学测量装置、及μm级超导丝材电学测量装置。本发明所述μm级超导丝材低温下光电联合测量系统，可以克服现有技术中测量角度准确性差、实验可靠性低与低温下测量误差大等缺陷，以实现测量角度准确性好、实验可靠性高与低温下测量误差小的优点。 | ||
| 申请公布号 | CN102278949A | 申请公布日期 | 2011.12.14 |
| 申请号 | CN201110199073.4 | 申请日期 | 2011.07.15 |
| 申请人 | 兰州大学 | 发明人 | 王省哲;关明智;周又和 |
| 分类号 | G01B11/16(2006.01)I;G01B7/16(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/16(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人 | 刘震 |
| 主权项 | 1.一种<img file="2011101990734100001DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="28" he="18" />级超导丝材低温下光电联合测量系统，其特征在于，包括去除铜基的<img file="161892DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="28" he="18" />级纯超导丝材，以及分别与所述<img file="141349DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="28" he="18" />级纯超导丝材配合设置的<img file="2011101990734100001DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="27" he="17" />级超导丝材光学测量装置、及<img file="921087DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="27" he="17" />级超导丝材电学测量装置。 | ||
| 地址 | 730000 甘肃省兰州市城关区天水路222号 | ||