| 发明名称 | 用于优化接触式坐标定位装置的测量周期的方法 | ||
| 摘要 | 本发明描述了一种用于计算由包括测量探针(4)的坐标定位装置获取的表面位置测量的最优基准距(74)的方法。所述坐标定位装置可包括机床，所述测量探针(4)可包括具有可挠变触针(12)的接触式触发探针。所述方法包括利用测得的所述坐标定位装置的至少一个加速特性计算最优基准距(74)的步骤。这样，可优化测量周期时间。 | ||
| 申请公布号 | CN102282441A | 申请公布日期 | 2011.12.14 |
| 申请号 | CN201080004977.0 | 申请日期 | 2010.01.12 |
| 申请人 | 瑞尼斯豪公司 | 发明人 | 德里克·马歇尔;戴维·约翰·罗杰斯;琼·马克·贾卡洛内 |
| 分类号 | G01B21/04(2006.01)I;G05B19/401(2006.01)I | 主分类号 | G01B21/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京金思港知识产权代理有限公司 11349 | 代理人 | 邵毓琴 |
| 主权项 | 一种用来计算表面位置测量的最优基准距的方法，所述表面位置测量待由包括测量探针的坐标定位装置获取，其中，所述方法包括利用所述坐标定位装置的至少一个测得的加速特性计算最优基准距的步骤。 | ||
| 地址 | 英国格洛斯特郡 | ||