发明名称 |
硅基三维结构磁场辅助电化学腐蚀的方法 |
摘要 |
本发明是一种硅基三维结构磁场辅助电化学腐蚀的方法,该方法包括光刻硅片、配置腐蚀液、电化学腐蚀前的准备、电化学腐蚀的实施及后处理步骤,其中:在配置腐蚀液的过程中,是将氢氟酸、二甲基甲酰胺和水混合,组成三者的体积比为(2.5~3.5)∶(14~18)∶1的腐蚀液作为负极腐蚀液,将质量浓度96%的分析纯NH4F、质量浓度40%的HF和水混合,组成三者的体积比为3∶6∶10的氢氟酸缓冲腐蚀液作为正极的腐蚀液;在磁场配置过程中,是将磁场方向垂直100晶向,同时与电场方向垂直,该磁场方向定为x轴。本发明提供的方法具有工艺简单、实用性强和容易实施等优点,可以获得大间距陡直图形的硅基三维结构的产品。 |
申请公布号 |
CN101866842B |
申请公布日期 |
2011.12.14 |
申请号 |
CN201010170397.0 |
申请日期 |
2010.05.07 |
申请人 |
武汉理工大学 |
发明人 |
周建;刘桂珍;王琳 |
分类号 |
H01L21/3063(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/3063(2006.01)I |
代理机构 |
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 |
代理人 |
王守仁 |
主权项 |
一种硅基三维结构磁场辅助电化学腐蚀的方法,其特征是该方法的步骤包括:(1)光刻硅片:利用光刻机和图形掩模将硅片进行光刻;(2)配置腐蚀液:将HF、DMF和水的混合,组成三者的体积比为(2.5~3.5)∶(14~18)∶1的腐蚀液作为负极腐蚀液,其中,HF为质量浓度40%的氢氟酸,DMF为质量浓度99.5%的二甲基甲酰胺;将质量浓度96%的分析纯NH4F、质量浓度40%的HF和水混合,组成三者的体积比为3∶6∶10的氢氟酸缓冲腐蚀液作为正极腐蚀液;(3)电化学腐蚀前的准备:将双槽腐蚀设备置于通风橱内,再将配置好的腐蚀液分别加入两侧腐蚀槽中,连接好电极,磁场配置:将磁场方向垂直100晶向,同时与电场方向垂直;该磁场方向定为x轴,该配置的磁场的强度为10~100mT,将光刻好的硅片装入所述腐蚀槽中;(4)电化学腐蚀的实施:按照工艺要求,在腐蚀液、电流及配置的磁场的协同作用下对光刻好的硅片进行电化学腐蚀;所述工艺要求是指采用0.01~0.08A的直流电流,腐蚀时间为120~300分钟,腐蚀深度为60~100微米,腐蚀间距为20~300微米;(5)后处理:电化学腐蚀结束后将硅片取下用去离子水冲洗干净,然后进行烘干;经过上述步骤,得到硅基三维结构的产品。 |
地址 |
430071 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号 |