用于荧光分析仪上的X射线检测方法

摘要

本发明公开了一种用于荧光分析仪上的X射线检测方法，首先利用布拉格定律将被测对象的特征X射线分离出来；然后对分离出来的特征X射线用X射线探测器检测，得到光谱数据，并对分离后的特征X射线的光谱数据用能量色散的方法进行处理。还单独用一个高分辨率的X射线探测器检测分光前的所有元素的特征X射线并用能量色散的方法进行谱峰计算。用两种方法处理后的数据进行品位计算，相比单用一种分析方法，可提高品位分析精度，尤其适用于被测对象的物理性质变化较大、低品位测量和非金属元素测量的情况。

主权项

一种用于荧光分析仪上的X射线检测方法，其特征在于，它是波长色散和能量色散相结合的检测方法，包括步骤：A、利用布拉格定律将被测对象的特征X射线分离出来；B、对分离出来的特征X射线用X射线探测器检测，得到光谱数据；C、将步骤A中得到的分离后的特征X射线的光谱数据用能量色散的方法进行处理D、对分离前的特征X射线用另外的X射线探测器检测，得到光谱数据；E、将步骤D中检测到的分离前的特征X射线的光谱数据用能量色散的方法进行处理；F、用步骤E中处理后的数据对步骤C中的数据进行修正，用于对步骤A中分离出来的被测对象进行分析。