发明名称 一种半导体p-i-n结太阳能电池外延片及其制备方法
摘要 本发明公开了一种基于InxGa1-xN纳米柱的半导体p-i-n结太阳能电池外延片,包括:一衬底,该衬底用于在其上进行InxGa1-xN材料外延生长;一InxGa1-xN材料模板,该InxGa1-xN材料模板外延生长在衬底上;一纳米柱阵列,该纳米柱阵列加工形成于InxGa1-xN材料模板上;一半导体太阳能电池p-i-n结构,该p-i-n结构外延生长在纳米柱阵列的侧壁、顶部及纳米柱之间的材料模板表面。本发明同时公开了一种基于InxGa1-xN纳米柱的半导体p-i-n结太阳能电池外延片的制备方法。利用本发明,可以极大地增加单位芯片上光电转换区的面积,降低半导体薄膜表面对太阳光的反射,提高光子收集率,减少光生载流子的复合,提高器件的工作效率。
申请公布号 CN101740654B 申请公布日期 2011.12.07
申请号 CN200810226677.1 申请日期 2008.11.19
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 王辉;朱建军;张书明;杨辉
分类号 H01L31/075(2006.01)I;H01L31/0352(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I 主分类号 H01L31/075(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 周国城
主权项 一种基于InxGa1‑xN纳米柱的半导体p‑i‑n结太阳能电池外延片,其特征在于,包括:一衬底,该衬底用于在其上进行InxGa1‑xN材料外延生长;一InxGa1‑xN材料模板,该InxGa1‑xN材料模板外延生长在衬底上,为n型或本征材料,且0≤x≤1;一纳米柱阵列,该纳米柱阵列通过刻蚀InxGa1‑xN材料模板而形成;一半导体太阳能电池p‑i‑n结构,该p‑i‑n结构外延生长在纳米柱阵列的侧壁、顶部及纳米柱之间的材料模板表面,是由上至下将p型、i型和n型半导体材料层顺序层叠而成,n层为n型InxGa1‑xN材料,0<x≤1,厚度为大于0且小于500nm;i层厚度为大于0且小于500nm,其为本征InyGa1‑yN材料,0<y≤1,或者采用InXGa1‑XN/InYGa1‑YN多量子阱结构或超晶格结构,0<X≤1,0≤Y≤1,X<Y;p层为p型InzGa1‑zN材料,0<z≤1,厚度为20~200nm。
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